CTM048-21靜電事件探測儀EM EYE SCS
- 公司名稱 上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司
- 品牌 SCS/美國
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/8/21 13:25:35
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堅(jiān)融實(shí)業(yè)——上海市先JIN企業(yè)!
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——專注工業(yè)測試行業(yè)十六年!
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——通過德國萊茵TUV認(rèn)證供應(yīng)商!
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——擁有替代進(jìn)口品牌儀器儀表設(shè)備及非標(biāo)定制工廠!
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——儀器儀表設(shè)備代理經(jīng)銷商中唯YI 一家有技術(shù)支持工程師的公司!
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——實(shí)繳注冊資金人民幣壹仟萬元整！實(shí)繳資本同行業(yè)中居全國QIAN三!
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——抗金融風(fēng)險(xiǎn)實(shí)力超QIANG，且為行業(yè)里極少數(shù)通過會計(jì)事務(wù)所嚴(yán)格審計(jì)的公司，公司遵紀(jì)守法，用戶合作安全可靠!
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——致力于為祖國用戶提供儀器設(shè)備售前演示實(shí)測、測試方案應(yīng)用、技術(shù)使用培訓(xùn)及售后維修計(jì)量，全面服務(wù)的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商!
專業(yè)儀器設(shè)備與測試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友（上海）測量儀器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，專注工業(yè)測試行業(yè)十六年，志在破舊立新！填BU進(jìn)口儀器設(shè)備大多數(shù)廠家僅在國內(nèi)設(shè)銷售點(diǎn)，但技術(shù)支持薄弱甚至沒有，而代理經(jīng)銷商也只做商務(wù)，不做售前技術(shù)支持/測試方案和售后使用培訓(xùn)/維修校準(zhǔn)的空白。我們的技術(shù)型銷售均為本科以上學(xué)歷，且均有10年以上測試行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，以我們先進(jìn)獨(dú)TE的經(jīng)營理念，與客戶互惠互利合作雙贏，重在協(xié)助用戶采購與技術(shù)工程師的工作，提供具競爭力的供應(yīng)鏈管理與售前售后技術(shù)支持。十六年精耕細(xì)作于儀器設(shè)備售前演示實(shí)測、測試方案應(yīng)用、技術(shù)使用培訓(xùn)及售后維修服務(wù)。
經(jīng)營品牌及產(chǎn)品：
一、測試技術(shù)方案【我們根據(jù)用戶實(shí)際應(yīng)用，撰寫有上百篇技術(shù)測試應(yīng)用文章】：
USB3.0/MIPI/eDP/eMMC5.1/SD4.1/DP AUX/SoundWire/I2C/SPI/UART/CAN/FlexRay/MVB/WTB協(xié)議測試、半導(dǎo)體I-V測試、表面電阻/體積電阻率、靜電壓/離子消散衰減、介電常數(shù)/電導(dǎo)率/阻抗分析、GaN/SiC/IGBT特性分析、IoT低功耗、材料耐壓絕緣電阻漏電流、ESD靜電放電/EMC電磁/雷擊浪涌、材料高低溫/冷熱沖擊試驗(yàn)、大眾VW80000/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測試、材料切割鑲樣磨拋金相分析......
二、環(huán)境可靠性試驗(yàn)/拉力試驗(yàn)/幾何精密測量/機(jī)器人手臂：
愛斯佩克ESPEC/賓德BINDER/廣五所GWS/偉思富奇Weiss-Technik烘箱、
高低溫試驗(yàn)箱、恒溫恒濕箱、冷熱沖擊箱、鹽霧箱。沖擊跌落機(jī)、振動臺、英斯特朗INSTRON拉力試驗(yàn)機(jī)。海克斯康HEXAGON/蔡司ZEISS/法如FARO三坐標(biāo)測量儀/智能機(jī)械人手臂。
三、靜電檢測消除：
DESCO/KLEINWACHTER防靜電電阻測試儀、靜電測試儀、離子風(fēng)機(jī)、靜電吸塵器、手腕帶防靜電鞋ESD測試儀、電荷電量庫侖計(jì)、MET ONE百級潔凈室塵埃粒子計(jì)。
四、電子測量儀器：
是德KEYSIGHT/泰克Tektronix/KEITHLEY/ADCMT/日置HIOKI/普源RIGOL/致茂Chroma/羅德R&S/德國EA電源、電子負(fù)載、萬用表、數(shù)據(jù)采集、皮安表、源表、靜電計(jì)、高阻表、半導(dǎo)體圖示儀、信號源、示波器、頻譜儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、功率計(jì)、電池測試儀。ZEROPLUS邏輯分析儀、Wayne Kerr LCR電橋、阻抗分析儀、FOTRIC紅外熱像儀、菊水KIKUSUI/華儀EEC/高美GMC-I耐壓絕緣接地漏電流測試儀。
五、生物制藥化學(xué)實(shí)驗(yàn)儀器/傳感器：
賽默飛Thermo元素分析儀、博勒飛BrookField粘度計(jì)、安捷倫Agilent色譜/質(zhì)譜/光譜儀、萬通Metrohm滴定儀、電化學(xué)工作站、梅特勒METTLER/威卡WIKA壓力/流量/PH/溶氧/電導(dǎo)率傳感器，天平。艾卡IKA/Sartorius發(fā)酵罐、水分儀。愛色麗X-rite/美能達(dá)Minolta色彩分析儀、光度/亮度/照度計(jì)。COSMOS潤滑油鐵粉濃度計(jì)。
六、金相設(shè)備耗材：
賀利氏Heraeus/司特爾Struers/標(biāo)樂Buehler切割機(jī)、研磨拋光機(jī)、鑲嵌機(jī)、顯微鏡、硬度計(jì)。
企業(yè)在銷售過程中根據(jù)給用戶實(shí)際測試使用撰寫有《芯片集成電路I2C、SPI測試》、《存儲器SD4.1、eMMC5.1測試》、《電腦周邊USB3.0、UART測試》、《CAN、LIN、FlexRay、SENT汽車電子總線測試》、《MVB、WTB總線軌道交通測試方案》、《電源管理系統(tǒng)BMS測試》、《音視頻多媒體MIPI/HDMI/DP AUX/SoundWire測試》、《GB/T國標(biāo)、ANSI/ASTM美標(biāo)之材料表面電阻和體積電阻率測試方案》、《防靜電地板/臺面/鞋服/橡膠絕緣材料/薄膜/包裝材料ANSI/ESD規(guī)范防靜電測試》、《電子電器/防靜電產(chǎn)品的IEC 61340、EOS/ESD S.3.1和SAE J1645標(biāo)準(zhǔn)靜電消散測試》、《基于LCR電橋/阻抗分析儀/網(wǎng)絡(luò)分析儀之介電常數(shù)、電導(dǎo)率測試評估》、《6517B與B2985A高阻表測量電阻/體積電阻率》、《新材料先進(jìn)半導(dǎo)體微電流/微電阻/低噪聲測試》、《循環(huán)伏安法CV電化學(xué)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)工作站測量線性掃描伏安特性CV、電流-時(shí)間曲線I-t、電勢、電沉積、電阻率》、《基于源表和轉(zhuǎn)換開關(guān)的霍爾效應(yīng)與范德堡測試》、《MOSFET/CMOS/IGBT半導(dǎo)體晶體管特性曲線分析》、《電波暗室EMC電磁兼容測試》、《基于頻譜分析儀的EMI輻射預(yù)測試》、《相噪/頻響/數(shù)字模擬高速信號采集/射頻微波測試》、《音視頻綜合測試分析》、《Wi-Fi/藍(lán)牙Bluetooth/LTE/GPS測試》、《大眾VW80000/通用GMW3172/ISO7637瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾/ISO16750電源故障模擬標(biāo)準(zhǔn)測試》、《鑲嵌機(jī)、磨拋機(jī)在電子零部件中的應(yīng)用》、《Agilent34970A，KEITHLEY2700數(shù)據(jù)采集監(jiān)測多路溫度/電壓/電阻》、《精密電流源/納伏表納米超導(dǎo)材料，繼電器開關(guān)，汽車電子連接器微小電阻測試》、《靜電電量Static Charge電荷庫侖Coulomb測試方案》、《基于KEITHLEY6514靜電計(jì)，DMM7510圖形萬用表和高速示波器之nanogeneration納米發(fā)電機(jī)實(shí)驗(yàn)》、《基于皮安表的元器件/電路板泄漏電流，二極管暗電流測試》、《基于KEITHLEY2460-EC電化學(xué)工作站/恒電位測試》、《石墨烯/碳納米/晶體管測試》、《半導(dǎo)體材料SiC，GaN等電流/電壓特性分析和功能測試》、《光電子/納米電子器件測試》、《LED照明測試》、《OLED，TFT LCD液晶顯示集成電路及材料測試》、《IoT物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備低功耗測試》、《大功率編程電源/負(fù)載的太陽能光伏、新能源汽車、充電樁、燃料電池測試》、《機(jī)電/材料/生物醫(yī)學(xué)/汽車電子云熱像》、《ABS防抱死制動系統(tǒng)、SRS汽車安全氣囊、TPMS胎壓監(jiān)測測試系統(tǒng)》、《薄膜/膠片介電擊穿/電氣強(qiáng)度試驗(yàn)》、《橡膠/電芯/陶瓷絕緣電阻試驗(yàn)》、《符合IEC61215、IEC61730光伏標(biāo)準(zhǔn)耐壓測試方法》、《GB/T 1695硫化橡膠擊穿電壓強(qiáng)度和耐電壓測定方法》、《GB/T 24344工業(yè)機(jī)械電氣設(shè)備耐壓試驗(yàn)規(guī)范》、《基于GB/T、IEC、EN、UL、VDE、JIS等各國安全規(guī)范要求》、《符合IEC、JIS、UL各類標(biāo)準(zhǔn)的醫(yī)療器械泄漏電流測試》、《燈具/開關(guān)插座/EV充電樁接地電阻測試》、《干濕球、不飽和、濕潤飽和模式高壓加速老化試驗(yàn)》、《腐蝕性物質(zhì)高低溫環(huán)境可靠試驗(yàn)》、《汽車電子零部件/內(nèi)飾件高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)》、《樹脂、涂料、油漆、膠帶易燃物質(zhì)防爆型高溫烘箱》等上百篇技術(shù)測試應(yīng)用解決方案文章，為工業(yè)測試行業(yè)做出了我們應(yīng)有的貢獻(xiàn)。
堅(jiān)忍不拔 圓融通達(dá) 是我們秉承的理念，嚶其鳴矣 求其友聲，我們渴望跟更多志同道合的同仁共建至真至誠共贏合作，為祖國測試行業(yè)“添磚加瓦”！
代理授權(quán)證/技術(shù)培訓(xùn)證：
用戶培訓(xùn)：
總線測試協(xié)議解碼邏輯分析儀，靜電阻/靜電場測試儀，源表，干燥箱烘箱，高低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱，LCR阻抗分析儀，示波器，頻譜儀，耐壓絕緣電阻測試儀
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
|---|
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——上海市先JIN企業(yè)!
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CTM048-21靜電事件探測儀EM EYE SCS
探測靜電放電次數(shù)，探測靜電放電電壓 ，可選 HBM、MM、CDM 模式
品牌：SCS（DESCO 子品牌）
注意!
不要使用任何工具裝卸傳感器模塊和天線，徒手即可，裝卸時(shí)動作輕柔
在開機(jī)狀態(tài)下不要拔插傳感器模塊和天線，也不要拔插 SD 卡
使用儀器時(shí)要小心輕放，避免跌落
天線不要觸碰到帶電體
避免硬物劃傷屏幕
初次使用時(shí)，對電池進(jìn)行 2 次全充-放電循環(huán)，以延長電池壽命
電池充滿時(shí)間為 2 小時(shí)左右
不要使用第三方電源適配器，有可能造成儀器損壞
如果儀器死機(jī)，可用回形針頂一下儀器底部的重置鍵
1. 產(chǎn)品描述
CTM048-21靜電事件探測儀EM EYE SCS是一款靜電事件探測儀，可以測試靜電放電的次數(shù)和放電電壓。儀器具有分辨信號的能力，區(qū)分 EMI 和 ESD 信號，剔除非 ESD 相關(guān)事件。用戶可以選擇測試 CDM、HBM、MM 放電模型，儀器根據(jù)放電模型、探測距離和信號強(qiáng)度計(jì)算出大致的放電電壓。
1 主機(jī)身
2 SD 內(nèi)存卡（已插入主機(jī)身）
3 CTC021 探測模塊（含 CTS001 天線）
4 CTC113-6FT 遠(yuǎn)端全向天線，1.8 米長纜線
5 電源適配器
6 CTC115-6FT 遠(yuǎn)端全向天線，抗高溫，1.8 米長纜線
標(biāo)配：○1 +○2 +○3 +○4 +○5
選配：○6
2. 部件功能及安裝
備注：
CTS001 為定向天線，只可以探測到正前方的信號
CTC113 為全向天線，可以探測到 360 度任何方向的信號
如果需要探測高溫區(qū)域的靜電放電事件，選購 CTC115 高溫天線
如果新機(jī)沖不了電，把電源適配器插上，然后頂 1 下重置鍵激活電池
CTC113 遠(yuǎn)端天線（全向天線），如果需要探測狹窄空間，可采用該天線
3. 觸控屏操作
開機(jī)：手指按住顯示屏任意位置 3 秒
關(guān)機(jī)：手指按住 Power/C 鍵 4 秒
1 弧形圓點(diǎn)，示意 10 個(gè)級別的放電強(qiáng)度，點(diǎn)擊可設(shè)置報(bào)警閾值
2 閃電/三角符號：點(diǎn)擊可切換符號
閃電符號，只顯示靜電相關(guān)放電事件（ESD）
三角符號，顯示所有放電事件（包含 ESD 和 EMI）
3 探測距離：天線到被測試物/測試點(diǎn)的距離，點(diǎn)擊可設(shè)置距離
4 聲音符號：點(diǎn)擊該符號可選擇報(bào)警聲類型及音量。鈴鐺符號為“叮鈴”聲，只有一個(gè)音量，不能調(diào)節(jié)。
點(diǎn)擊切換成喇叭符號，這時(shí)的儀器發(fā)出類似收音機(jī)調(diào)頻聲，聲音根據(jù)信號強(qiáng)度的大小變化。繼續(xù)點(diǎn)擊可以調(diào)節(jié)音量大小，在喇叭上出現(xiàn)叉，表示靜音。
5 Power/C 按鍵：單擊該鍵屏幕清零；按住該鍵 4 秒關(guān)機(jī)
6 Menu/F 按鍵：點(diǎn)擊進(jìn)入儀器基本設(shè)置界面
7 Hold 按鍵：點(diǎn)擊 1 次鎖定當(dāng)前值；再點(diǎn)擊 1 次標(biāo)識該值為最大值；再點(diǎn)擊 1 次取消鎖定
8 時(shí)間：顯示當(dāng)前時(shí)間
9 電量符號：示意剩余電量；點(diǎn)擊該符號設(shè)置日期和時(shí)間
10 內(nèi)存卡符號：點(diǎn)擊該符號，進(jìn)入查看界面，可以查看測試記錄
11 放電模型：點(diǎn)擊進(jìn)入設(shè)置界面，可以選擇 CDM、MM、HBM 放電模型或 Raw Input（信號電平）
12 靜電放電電壓值
3.1. 開機(jī)界面
按住屏幕任意位置大概 3 秒后儀器開機(jī)。開機(jī)后先顯示儀器固件號，如下所示：
稍后，進(jìn)入待機(jī)界面。如果未插入 SD 卡或不能識別 SD 卡，出現(xiàn)以下提示：
無 SD 卡也可以正常使用該儀器，但測試數(shù)據(jù)不會被保存。點(diǎn)擊黃色區(qū)域關(guān)閉提示窗口并進(jìn)入待機(jī)界面。
注意！拔插 SD 卡時(shí)，儀器處于關(guān)機(jī)狀態(tài)。
3.2. 儀器基本設(shè)置
點(diǎn)擊 Menu/F 鍵進(jìn)入基本設(shè)置界面，顯示如下：
第一行顯示儀器主板編號
第二行為屏幕亮度，點(diǎn)擊圓盤的?/?增加或降低亮度，默認(rèn) 50%
點(diǎn)擊▲/▼滾動到第三行“Off time”項(xiàng)，設(shè)置自動關(guān)機(jī)時(shí)間（默認(rèn) 5 分鐘），點(diǎn)擊?/?改變時(shí)間，一直點(diǎn)擊?到 0，表示不啟用自動關(guān)機(jī)功能
點(diǎn)擊▲/▼滾動到第四行“Local antenna”項(xiàng)，點(diǎn)擊?/?切換 Local antenna/Remote antenna
Local antenna：采用 CTS001 定向天線時(shí)選擇該項(xiàng)
Remote antenna：采用 CTC113 或 CTC115 遠(yuǎn)端全向天線時(shí)選擇該項(xiàng)
設(shè)置完成后，點(diǎn)擊圓盤中間的8 返回待機(jī)界面
Display Module
KW H028 Q27-F02
Firmware Rev. 2.06
Desco Industries
2015
WARNING:
No memory card.
You can add it any time.
Click here to close the
Window.
Hardware Setup
Power
C 08:30
S/N 16065 CRC=00A7A9C9
Brightness: 50%
Off time: 5 min
Local antenna
儀器基本設(shè)置界面
3.3. 設(shè)置日期和時(shí)間
點(diǎn)擊電池符號進(jìn)入日期和時(shí)間設(shè)置界面，顯示如下：
第一行設(shè)置時(shí)間，點(diǎn)擊圓盤▲/▼改變數(shù)值，點(diǎn)擊?/?移動光標(biāo)向前或向后
第二行設(shè)置日期，格式為：月/日/年（08/15/16 表示 2016 年 8 月 15 日）
第三行選擇 12/24 小時(shí)制，點(diǎn)擊▲/▼選擇 12H 或 24H
設(shè)置完成后，點(diǎn)擊圓盤中間的8 返回待機(jī)界面
4. 測試靜電放電（ESD）事件
4.1. 設(shè)置探測距離和放電模型
儀器采用專LI的算法，根據(jù)探測距離、獲得信號強(qiáng)度和放電模型計(jì)算出大致的放電電壓。用戶需要設(shè)置探測距離和放電模型。
探測距離：
天線距離被測試物/測試點(diǎn)的距離，設(shè)置范圍 0.5~15.0 英寸（1.3~38.1cm）
注意：實(shí)際測試時(shí)，天線距離被測試物/測試點(diǎn)應(yīng)該為所設(shè)置的距離。
放電模型：
2 CDM：器件本身帶有靜電，當(dāng)接觸到接地導(dǎo)體或其他電位導(dǎo)體時(shí)發(fā)生靜電放電
2 MM：帶靜電的設(shè)備或工具接觸到接地的器件，發(fā)生靜電放電
2 HBM：帶靜電的人體接觸到接地的器件，發(fā)生靜電放電
2 Raw Input：天線所獲得的實(shí)際信號強(qiáng)度（電平信號），該讀數(shù)用于儀器校準(zhǔn)
Time-Date Setup
Power
C 08:30
Time: 14:06
Date: 08/15/16
Mode: 24 H
設(shè)置日期和時(shí)間
點(diǎn)擊屏幕的距離或放電模型方框，進(jìn)入設(shè)置界面，屏幕顯示如下：
2 點(diǎn)擊圓盤▲/▼設(shè)置探測距離，選擇范圍 0.5~15.0 英寸（1.3cm~38.1cm），0.5 英寸以下，每點(diǎn)擊 1 次
遞增 0.5 英寸；10 英寸以上，每點(diǎn)擊 1 次遞增 1 英寸。
2 點(diǎn)擊圓盤?/?設(shè)置放電模型，可以選擇 CDM、MM、HBM、Raw Input
2 設(shè)置完成后，點(diǎn)擊圓盤中間的8 返回待機(jī)界面
4.2. 報(bào)警閾值設(shè)置
點(diǎn)擊弧形圓點(diǎn)，進(jìn)入設(shè)置界面。（備注：儀器內(nèi)存只記錄超過閾值的靜電放電事件）
2 點(diǎn)擊圓盤?/?設(shè)置報(bào)警閾值，范圍 000~990V：
l 0~10V 按 1V 增幅設(shè)置
l 10~990V 按 10V 增幅設(shè)置
2 如果選擇了“Raw Input”測試模式，可以選擇 1~1500mV
2 設(shè)置完成后，點(diǎn)擊圓盤中間的8 返回待機(jī)界面
ESD Events
Power
C 08:30
Distance: 4.0”10.2cm
Model: CDM
ESD Events
Power
C 08:30
000 V
設(shè)置距離和模式
設(shè)置報(bào)警閾值
按以上設(shè)置完成后，即可開始測試。測試時(shí)屏幕出現(xiàn)閃電符號，表示開啟了信號屏蔽功能，儀器剔除了非ESD 放電信號，只顯示靜電放電事件。點(diǎn)擊該符號切換到全信號模式，這時(shí)出現(xiàn)三角形符號，表示儀器顯示所有探測到的信號，包括 EMI 背景噪音和 ESD 放電信號。
測試時(shí)，屏幕顯示的電壓值為估算的放電電壓，數(shù)字為超過閾值的放電次數(shù)。最高可以記錄 32767 次放電次數(shù)。點(diǎn)擊 Power/C 鍵可以清零放電次數(shù)，重新累計(jì)。
4.3. 按照 ANSI/ESD SP17.1 規(guī)范進(jìn)行靜電放電事件風(fēng)險(xiǎn)評估流程
備注：
2 首先確定靜電敏感器件是否有導(dǎo)體部位接觸或非常接近導(dǎo)電的物體，例如金屬-金屬接觸，如果沒有，通常不會有靜電放電風(fēng)險(xiǎn)，無需進(jìn)一步進(jìn)行風(fēng)險(xiǎn)評估。
2 空載測試：在制程中不要放入靜電敏感器件，記錄下測到的靜電放電現(xiàn)象
2 放入靜電敏感器件后，如果沒有探測到更多的放電現(xiàn)象，表示探測到的是干擾信號/背景噪音，而非放入靜電敏感器件后造成的靜電放電，評估結(jié)束-低風(fēng)險(xiǎn)
2 如果探測到更多的放電現(xiàn)象，根據(jù)測到的放電電壓值和器件的靜電敏感閥值來評估風(fēng)險(xiǎn)，如果放電電壓值超過器件所列明的閥值，采取措施消除危險(xiǎn)，例如采取接地、離子中和等方式
2 采取消除風(fēng)險(xiǎn)的措施后，再次進(jìn)行評估
○1 是否和靜電敏感器件直接
接觸或距離非常近
評估結(jié)束-低風(fēng)險(xiǎn)
○2 進(jìn)行空載測試
○3 把靜電敏感器件放入后測
試，對比測試結(jié)果
○4 是否測到更多的
靜電放電事件？
○5 評估結(jié)束-低風(fēng)險(xiǎn)
否
否
○6 評估風(fēng)險(xiǎn)程度
消除風(fēng)險(xiǎn)
按 2~5 步驟再次評估
5. 數(shù)據(jù)查看和處理
5.1. 安裝 SD 卡
1）把 SD 卡插入儀器，注意方向，有字的面朝上，有金屬觸腳的在里面。注意！一定要在儀器關(guān)機(jī)的情況下拔插 SD 卡。
2）插好卡后，儀器開機(jī)，儀器會對新卡或空卡進(jìn)行初始化。然后進(jìn)入待機(jī)界面，在屏幕右中可以看見 SD卡圖標(biāo)，表示成功。如果不顯示 SD 卡圖標(biāo)或有紅叉，表示該卡不兼容。
3）所有測試記錄會保存在 SD 卡上。注：只有超過報(bào)警閾值的值才會被記錄下來。
在待機(jī)界面，點(diǎn)擊 SD 卡符號，進(jìn)入查看界面。點(diǎn)擊圓盤的▲/▼和?/?可以上/下和左/右滾動查看。
5.2. 數(shù)據(jù)處理
向供應(yīng)商獲取 EMEYE_Converter.zip 軟件，解壓后雙擊 setup.exe 安裝，按指示進(jìn)行安裝，最后點(diǎn)擊 Close完成。EM EYE 操作手冊/APS-21 9
把 SD 卡從儀器中取出，放入配套的卡托，插到電腦的卡槽上
1) 打開安裝的 Em Eye File Converter Rev.5 軟件（在桌面有快捷圖標(biāo)）
2) 點(diǎn)擊 File > Open Ctrl+O，選擇 SD 卡上的 ESD3M0003.esd 文件
3) 打開后可以看見所有的測試記錄，每條表示一個(gè)時(shí)間點(diǎn)的測試記錄。例如下圖第一行，表示 2016 年 8月 29 日 22 點(diǎn) 39 分 17 秒的測試記錄，共有 7 個(gè) ESD 事件發(fā)生（報(bào)警閾值為 370V）
4) 點(diǎn)擊任一條測試記錄，然后點(diǎn)擊 File > Save 保存。例如下圖，保存在 C 盤下的“ESD 測試”文件夾
5) 用 EXCEL 打開該所保存的文件可以顯示詳細(xì)的測試數(shù)據(jù)
例如上圖，打開所保存的 2016 年 8 月 29 日 22 點(diǎn) 39 分 17 秒的測試記錄，可以看見詳細(xì)的 7 個(gè) ESD 事件。
備注：當(dāng) SD 卡滿后，把 SD 卡插入電腦，然后清空該卡即可。
重新把空卡插入儀器后，儀器會自動初始化。
6. 故障信息
屏幕提示 解決方法
ERROR: Sensor is disconnected. Click here to turn device off.
未裝上探測模塊就開機(jī)。先關(guān)機(jī)，裝上探測模塊后再開機(jī)使用。
ERROR:Card was removed. Data may be
lost and card could be damaged.
Click here to close the window.
在開機(jī)狀態(tài)下，拔出了 SD 卡，可能會導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失和SD 卡損壞。點(diǎn)擊關(guān)閉該提示，關(guān)機(jī)后插回 SD 卡。
WARNING:No memory card. You can add it at any time.
Click here to close the window.
儀器未插入 SD 卡，可以在任何時(shí)候插入 SD 卡。點(diǎn)擊關(guān)閉該提示。
PREPARING CARD FOR RECORDING!!!
DO NOT REMOVE!!! PLEASE WAIT. 正在初始化 SD 卡，不要拔出 SD 卡。
ERROR: Invalid memory card. Format or replace it.
Click here to close the window.
SD 卡格式不兼容，先在電腦上格式化成 FAT32 格式再使用。
ERROR!!! STACK OVERFLOWED.
Click here to turn device off.
出現(xiàn)嚴(yán)重故障。需要重置儀器，如果問題未解決，必需返回原廠維修。
備注：當(dāng)儀器出現(xiàn)死屏或嚴(yán)重故障時(shí)，用回形針頂一下儀器底部的重置孔，儀器恢復(fù)到出廠狀態(tài)，通常能解決故障。
備注：儀器長期閑置，電池可能耗盡電量。這時(shí)插上電源適配器，用回形針頂一下儀器底部的重置孔，電池重新被激活，儀器開始充電。
7. 儀器校準(zhǔn)
測試靜電放電電壓，測試方法是獲取放電信號的強(qiáng)度然后采用專有算法計(jì)算出放電電壓值。
原廠校準(zhǔn)書僅顯示儀器能否正確接收到放電信號，校準(zhǔn)方法是采用脈沖電源輸出 100mV、150mV、1.0V、1.5V 信號，然后驗(yàn)證儀器接收到的信號強(qiáng)度（dBμV）是否準(zhǔn)確。
疑問一：如何在第三方進(jìn)行校準(zhǔn)？
答：不能在第三方機(jī)構(gòu)進(jìn)行校準(zhǔn)，因?yàn)樵瓘S對儀器的天線數(shù)據(jù)（電容、阻抗）等均BU公開。第三方無法對儀器能否接收正確放電信號進(jìn)行驗(yàn)證。即使第三方可以驗(yàn)證儀器是否準(zhǔn)確獲取放電信號，后續(xù)也無法根據(jù)信號強(qiáng)度計(jì)算出放電電壓值，該算法為原廠專有算法，BU公開。
所以儀器必需返回原廠進(jìn)行校準(zhǔn)，亞洲用戶可以返回 DESCO 日本公司進(jìn)行校準(zhǔn)。
疑問二：該儀器測試放電電壓，但為什么沒有測試精度參數(shù)？
答：靜電放電電壓和實(shí)際物體的電容有關(guān)，儀器無法事先知道被測物體的電容，只能采取一個(gè)經(jīng)驗(yàn)值（根據(jù)實(shí)驗(yàn)取一個(gè)能兼顧大多數(shù)器件的經(jīng)驗(yàn)值）來計(jì)算放電電壓。所以儀器的讀數(shù)是接近實(shí)際放電電壓值，而沒有一個(gè)定量的測試精度。
疑問三：如何直觀地驗(yàn)證儀器的測試準(zhǔn)確度？
答：下圖顯示了靜電模擬器的放電過程，儀器實(shí)測讀數(shù)接近放電電壓。用戶可以用靜電放電槍做這類驗(yàn)證。
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