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半導體芯片HAST測試設備 試驗箱

是一種用于評估芯片在低溫環境條件下性能和可靠性的測試方法。半導體芯片HAST，HAST加速老化試驗箱廣泛應用于多層電路板、IC封裝、液晶屏、LED、半導體、磁性材料、NdFeB、稀土、磁鐵等材料的密封性能測試，對上述產品的耐壓力和氣密性進行測試。

半導體芯片HAST測試設備 試驗箱

半導體芯片HAST，HAST測試機試驗的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。用于調查分析何時出現電子元器件和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。 隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也 相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用的壓力蒸煮鍋試驗方法。

產品特點

1.半導體芯片HAST，HAST高壓加速老化試驗機采用較新優化設計,美觀大方，做工精細

2.具備特制的試樣架免去繁雜的接線作業

3.大容量水箱,試驗時間長,全自動補水，試驗不中斷

4.與試樣數量相吻合的試樣信號施加端了

5.采用觸摸屏，具有USB曲線數據下載功能

6.采用高效真空泵，使箱內達到較佳純凈飽和蒸汽狀態

7.一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長

8.多項安全保護措施,故障報警顯示及故障原因和排除方法功能顯示。

9.可根據客戶不同需求定制專用HAST試驗設備（如: HAST內箱尺寸及偏壓可滿足客戶不同的測試需要）

半導體芯片HAST，HAST測試機可根據客戶產品定制專用產品架

滿足

1. IEC60068-2-66

2. JESD22-A102-B

3. EIAJED4701

4. EIA/JESD22

5.GB/T 2423.40-1997

規范要求

半導體芯片HAST