在極短測量時間內提供出色的數據質量

SAXSpoint 5.0 采用高亮度 X 射線束，該射線束擁有高光譜純度和無散射光束準直。配備強大的微焦斑光源或 MetalJet X 射線源和高性能光學元件，可在更短的曝光時間內提供出色的測量結果。結合更新的混合光子計數 (HPC) 探測器，可確保獲得高質量的 SAXS/WAXS/GISAXS/USAXS/RheoSAXS 結果，以實現納米結構材料分析。通過這種出色的設置，可以實現更好的分辨率，并以同類產品中較緊湊的系統尺寸（3.6 x 0.9 m）解析高達 620 nm（USAXS 為不超過微米范圍）的結構。

一次性獲得 SAXS 和 WAXS 數據

SAXSpoint 5.0 具有移動探測器 Slidemaster，可在非常寬的 q 范圍內進行全自動 X 射線散射研究。一次性獲得 SAXS 和 WAXS 數據，無需重新校準系統。只需移動探測器，即可為每次實驗選擇更好的 q 范圍，從高 SAXS 分辨率到寬 WAXS 范圍。 
SAXSpoint 5.0 為您的測量提供自動光束選擇和定位。由于集成了更新的 EIGER2 R 探測器，因此可以進行無窗口和無光束遮擋測量。

SAXS 分析有難度嗎？使用 SAXSpoint 5.0 不是為了

自動完成日常測量工作，加快測量速度，而是 SAXSpoint 5.0 實驗室系統的標準性能。SAXSpoint 5.0 配備了 Stagemater，可以自動校準所有 X 射線部件和樣品臺，識別安裝的樣品臺，并相應地配置系統。這為您的測量設置提供更佳的可能結果。使用 低容量液體自動進樣器實現樣品通量自動化，最多可容納 192 個樣品，并配有溫控孔板隔室，用于在儲存期間冷卻和加熱樣品。

選擇樣品臺：同一系統適用于所有實驗條件

幾乎任何的納米結構材料都可以使用安東帕的各種樣品臺進行分析。使用 TrueFocus 可以輕松、快速地在不同的樣品臺之間切換，確保自動校準所有組件。 

• TCStage樣品臺裝置：在 -150 °C 到 600 °C 范圍內進行控溫研究

• 濕度樣品臺：在規定的相對濕度和溫度條件下進行分析

• GISAXS/GIXD 樣品臺：納米結構表面和薄膜研究

• 加熱/冷卻多位樣品臺：利用溫控的多位臺進行自動研究 

• Tensile 樣品臺：在規定的機械載荷下，分析納米結構纖維

• RheoSAXS 模塊：一次性進行完整的流變和納米結構研究 

功能強大的控制和數據分析軟件

SAXS 數據分析很復雜。直觀的 SAXSdrive™ 和 SAXSanalysis™ 軟件解決方案是獲得結果的方法。支持自動執行常規程序步驟，如測量設置和校準，以及綜合數據分析。設置連續測量，利用自動進樣、溫度掃描和時間相關研究，并使用可定制的模板來分析 1D 和 2D 數據集。測定回轉半徑 (RG)、粒徑、Porod 常數、比表面積、Kratky 曲線等參數是 SAXSanalysis™ 的標準功能。 

技術規格