透射電子顯微鏡原位加熱/電學測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內安裝MEMS工藝制成的微加熱芯片和電學測量芯片。微加熱芯片可對樣品進行可控溫度的加熱，電學測量芯片可對樣品進行電性質測量。并可在進行加熱和電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。

PicoFemto透射電鏡真空轉移樣品桿

PicoFemto透射電鏡真空轉移樣品桿，樣采用可伸縮的樣品桿端頭設計，從而實現將樣品從真空室或手套箱的真空環境下轉移到透射電鏡內的目的，避免樣品被大氣環境影響。

樣采用可伸縮的樣品桿端頭設計，從而實現將樣品從真空室或手套箱的真空環境下轉移到透射電鏡內的目的，避免樣品被大氣環境影響。

性能指標：

● 兼容型號電鏡及極靴；

● 保證電鏡原有分辨率；

● 保證電鏡真空度；

● 可選雙傾方案，β方向傾轉角為±25°，同時受限于極靴。

 本系統硬件包括兩部分，分別是加熱/電學測量控制器、原位MEMS芯片樣品桿。軟件包括自動控溫軟件和自動電學測量軟件。

性能指標：

● 兼容型號電鏡及極靴；

● 保證電鏡原有分辨率；

● 保證電鏡真空度；

● 可選雙傾方案，β方向傾轉角為±25°，同時受限于極靴。

部分國內用戶

部分國外用戶