LNP系列高低溫探針臺為小尺寸樣品測量電特性提供高精度可控測量環境。
應用方向:
探針臺可實現精準可靠的測試與測量分析，幫助精準測量
和分析判斷晶圓器件的性能，包括提供材料/器件的IV/CV特
性測試、LD/LED/PD的光強/波長測試，射頻特性器件失效分
析，芯片內部線路/電極/PAD測試等技術解決方案
探針臺是一種測試設備，用于測試電子元器件、電路板或系統的性能和功能。探針臺通常包括一個平臺，上面裝有用于連接和測試待測試物品的探針。通過探針臺，可以快速、準確地檢測出待測試物品的各種參數和功能，幫助提高生產效率和產品質量。在電子制造和測試領域，探針臺被廣泛應用。
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