產品關鍵詞：斜坡電壓電流測試（Ramp-IV）、階梯電壓電流測試（Step-IV）、脈沖電壓電流測試（Pulse-IV）、開關瞬態光電流（on-off TPC）、開關瞬態光電壓（on-off TPV）、暗注入瞬態特性測試（DIT）、深能級瞬態譜（DLTS）、暗態線性增壓電荷抽取測試（Dark-CELIV）、光態線性增壓電荷抽取測試（Photo-CELIV）、電荷抽取測試（CE）、阻抗譜測試（IS）、電容電壓測試（CV）、強度調制光電流譜（IMPS）、強度調制光電流譜（IMPS）、強度調制光電流譜（IMPS）、光電器件瞬態特性（時域/頻域測試）、電致發射譜（ELS）、多功能載流子瞬態特性分析 

▌ 產品簡介

UltraTran是一款集成了多種光電測試功能的儀器設備，專門針對半導體材料和器件的電學與光電特性進行精確測量，尤其適用于發光（OLED、PeLED等）與光伏器件（OPV、晶硅PV、異質結疊層PV等），該設備核心功能包括：

1）斜坡電壓電流測試（Ramp-IV）、階梯電壓電流測試（Step- IV）和脈沖電壓電流測試（Pulse-IV）。這些測試模式使得用戶能夠以不同的電學激勵方式對樣品進行掃描，從而獲得關于樣品在不同激勵下的電學性質。Ramp-IV以連續的方式提供電壓掃描，適用于捕捉材料響應的連貫變化；Step-IV則以逐步階梯的方式提供電壓，適合觀察材料在不同電壓階躍下的穩態行為；而Pulse-IV通過短時的電壓脈沖，允許研究器件的動力學IV特性，也可以有效減少器件的熱阻，增加器件的注入電流。

2）UltraTran還提供了開關瞬態光電流（on-off TPC）和開關瞬態光電壓（on-off TPV）測試，這些功能適合于研究材料在光照激發下的上升和下降過程【瞬態光電流/光電壓/光電荷測試參考我司TranPVC產品】。

3）暗注入瞬態特性測試（DIT）和深能級瞬態譜（DLTS）是可以用于探測和分析半導體中的陷阱和缺陷狀態。DLTS技術尤為擅長于識別和量化材料中的微小缺陷濃度，為改善半導體材料質量提供關鍵信息。

4）設備還支持暗態線性增壓電荷抽取測試（Dark-CELIV）和光態線性增壓電荷抽取測試（Photo-CELIV），這兩種模式能夠測定電荷在半導體內的傳輸和復合機制，得到遷移率等參數。

5）等效電荷抽取測試（CE），可以研究器件的電荷濃度。

6）阻抗譜測試（IS）、電容電壓測試（CV）等功能則為設備增加了額外的維度，使其能夠全面評估材料的阻抗和介電性能。

7）強度調制光電流譜（IMPS）和強度調制光電壓譜（IMVS）為研究者提供了一種方法來探究材料對光強變化的頻率響應，這對于光伏材料和應用尤為重要。

8）電致發射譜（ELS）為研究材料的電致發光特性，得到光譜、色坐標等參數。

▌ 測試功能

□ 斜坡電壓電流測試（Ramp-IV）；

□ 階梯電壓電流測試（Step-IV）；

□ 脈沖電壓電流測試（Pulse-IV）；

□ 開關瞬態光電流（on-off TPC）；

□ 開關瞬態光電壓（on-off TPV）；

□ 深能級瞬態譜（DLTS）；

□ 暗注入瞬態特性測試（DIT）；

□ 暗態線性增壓電荷抽取測試（Dark-CELIV）。

□ 光態線性增壓電荷抽取測試（Photo-CELIV）；

□ 電荷抽取測試（CE）；

□ 阻抗譜測試（IS）；

□ 電容電壓測試（CV）；

□ 強度調制光電流譜（IMPS）；

□ 強度調制光電壓譜（IMVS）；

□ 電致發射譜（ELS）；

▌ 產品應用

□ 半導體：有機半導體、金屬-有機框架、共價有機框、鈣鈦礦材料、二維材料、元素半導體（Si、Ge等）、化合物半導（InGaAs等）、寬帶隙第三代半導體、量子點半導體、其它半導體材料；

□ 光伏材料器件；

□ 發光材料器件；

□ 光催化材料器件。

▌ 功能模塊