高分辨X射線相位襯度臺式成像系統

inCiTe™是世界shou 款采用由加拿大KA Imaging  du家開發的高空間分辨率非晶硒（a-Se）探測器（BrillianSe™）專有技術的三維（3D）X射線顯微鏡(XRM)。BrillianSe™ X射線探測器具有高空間分辨率和高檢測效率，可在便攜式、臺式系統中實現快速相襯成像和傳統MicroCT（微米CT，計算機斷層掃描）成像。配置5μm（smallest spot size） X射線源。應用領域：?無損檢測(NDT)；?農業；?增材制造；?地質；?電子產品；?臨床前成像；?標本X射線攝影

相襯技術，更高對比度
相位對比成像是對傳統的吸收對比X射線成像的補充。對于具有較弱X射線吸收的材料，傳統X射線成像技術自然導致圖像對比度低。在這種情況下，基于X射線相位變化的相襯成像靈敏度要比吸收襯度成像靈敏度高得多。inCiTe™ 3D X射線顯微鏡通過X射線束的自由傳播（同軸相襯成像方式）直接實現相位對比，將物體的X射線相位變化轉換為探測器上的X射線強度變化。基于傳播（無光柵）的相襯X射線成像使具有較弱X射線吸收特征的檢測性能得以數量級的提高。

全新技術探測器
BrillianSe™ X射線探測器提供了du 特的組合，使用8μm像素的高空間分辨率和高探測量子效率（DQE），適用于高達120keV的能量探測。這種組合使得在低通量和高能量下能夠進行高效成像，同時也能夠通過傳播（無光柵）相襯增強，以提高對低密度材料成像時的靈敏度。BrillianSe™ X射線探測器具有1600萬像素（16M）。

?適用于同步加速器應用

?無光柵相襯效率更高

?更快掃描時間

?大視野 32mmx32mm

直接轉換探測器
BrillianSe™的混合a-Se/CMOS探測器采用高固有空間分辨率的a-Se光電導體，直接將X射線光子轉換為電荷。由低噪聲的CMOS有源像素傳感器（APS）讀取電子信號，無需先將X射線光子轉換為可見光（這在基于間接閃爍體的方法中是必需的），無需減薄轉換層以最小化光散射。

低密度材料的更好可視化
KA imaging專業研發和生產的inCiTe™X射線成像系統，適用于科研和工業無損檢測(NDT)等場景，尤其適合探測生物、聚合物等低密度、弱X射線吸收材料。應用案例包括但不限于：鈦種植體、小鼠膝關節組織、腎結石、藥物膠囊、電子器件、法蘭絨、芳綸等復合材料、輕質骨料混凝土等。

友好的用戶界面
inCiTe 3D X射線顯微鏡采集軟件具有直觀的圖形用戶界面，支持新手和專家用戶。系統快速啟動，用戶shou 次通電后不到20分鐘即可掃描樣品。inCiTe 3D X射線顯微鏡不需要任何樣品制備，如造影劑、染色或薄切片。

簡化的工作流程
工作流程：裝載樣品、調整掃描幾何形狀以獲得在所需放大倍率下zhui 快的掃描、校準探測器、檢查樣品對齊、開始掃描采集圖像。

高質量圖像_從收集到重構
在圖像采集之后，需要將采集的投影圖重建為切片圖，以便將切片組合成一個完整重構圖像，這可使用三維重構軟件完成。

應用場景舉例

?表征材料微觀結構

?對現有零件幾何形狀進行逆向工程

?驗證或校準仿真工作流

?應用到NDT(無損檢測)和GD&T(幾何尺寸和公差)檢驗方案

?監控生產過程

?確定問題的根本原因