PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量系統
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- 公司名稱 北京儀光科技有限公司
- 品牌 ZEPTOOLS/澤攸科技
- 型號
- 產地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2024/11/12 17:12:31
- 訪問次數 387
產品標簽
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| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 綜合 |
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PicoFemto NI-100 SEM納米力測量將納米壓痕儀集成進掃描電鏡中，使用戶可以在掃描電鏡中進行原位納米壓痕研究。該系統由一個三維壓電驅動的樣品臺和一個納米力測量探針組成。樣品安裝方式靈活多樣，可在三維納米位移臺的驅動下，達到超過5 mm的準確定位，定位分辨率優于100 nm，以使待測量區域準確對準力探針。
力探針同樣由壓電驅動，在軸向達到100 um的伸縮長度，位移分辨率優于0.25mm。由力傳感器準確測量所施加的力的載荷，可測拉力和壓力。并有不同的大量程的力傳感器可選配，達到很好的測量效果。通過搭配電學、光學、加熱等模塊，PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量系統還可以實現包括原位力/熱耦合、力/光耦合、力/電耦合、力/熱/晶體取向耦合等多場耦合研究。
PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量系統基本技術參數表
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部分國外用戶
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