簡介：

布魯克大樣品臺AFM Dimension 原子力顯微鏡為工業界和科研界納米領域的研究者帶來了全新的AFM應用體驗，其測試功能強大，操作簡便易行。仍然以世界上應用廣泛的AFM大樣品平臺為基礎，齊集Dimension系統數十年的技術經驗，廣大客戶反饋，結合工業領域的設備需求，進行全面革新。全新的系統設計，實現了低漂移和低噪音水平，現在用戶只需要幾分鐘就可獲得真實準確的掃描圖像。Dimension Icon還配備了Bruker技術ScanAsyst(自動掃描成像模式)，用戶可以簡易快捷地獲得重復性更好的數據，并且降低了對客戶操作經驗和操作水平的要求。作為目前配置ZG的AFM，保證客戶高效完成所需的檢測任務。

優勢：

1、性能：的傳感器設計，在閉環條件下，也能實現大樣品臺、針尖掃描的AFM具有與開環噪音水平一樣的低噪音水平，且具有掃描分辨率。極大地降低噪聲水平，在輕敲模式下低于30pm，接觸模式下可獲得原子級圖像。

熱漂移速率低于200pm/分鐘，獲得真正的樣品圖像

2、高效率：XYZ閉環掃描器的設計，使儀器在較高掃描速度工作時，也不降低圖像質量，具有更大的數據采集效率。將十年的研發經驗融入到參數預設置中，在新的NanoScope® 軟件帶有默認的實驗模式。高分辨率相機和X-Y定位可快速、高效地找到樣品測量位置。

3、全功能：針尖和樣品之間開放式的空間設計，不僅可以進行各種標準實驗，也可以自行設計實驗方案，滿足不同研究工作的需求。硬件和軟件技術方面的不斷創新，新開發的HarmoniX模式，可以測量納米尺度上材料性質用戶實用程序腳本提供半自動測量方案和數據分析。

案例：

表現：

使用 Dimension 系列原子力顯微鏡發表文章數目遠遠多于其他大樣品臺原子力顯微鏡，成為科研領域的原子力顯微鏡型號之一。布魯克大樣品臺AFM Dimension lcon在原有的操作平臺上引入技術，擁有更高的成像功能和更快的測量速度，更好的人機結合界面，與以往的任何AFM技術相比，其測量成像過程都更加簡便快捷。Dimensionlcon用戶無需進行傳統的AFM 操作需要幾小時儀器調試和儀器預熱，就可以立即獲得高質量的結果。Dimmension lcon從開放式針尖樣品空間，到軟件參數設置都經過特殊設計，為成功實現上述功能。

每分鐘少于 200pm 的熱漂移速率，全新直觀的用戶界面， Dimension AFM平臺，三者結合為這臺儀器提供了操作性能，保證你在短時間內得到測試結果并發表出版。

獲得夢寐以求的研究方案:

在科學技術迅猛發展的今天，科研人員需要迅速發現研究工作中的每一個突破口，抓住機遇取得實驗進展，以求立于不敗之地。除了擁有敏銳的科研洞察力，還要配備得心應手的研究設備和研究工具。Dimension lcon 就是 Bruker 為您提供的一款強大平臺。擁有低噪音的閉環掃描器，更高的分辨率，更快地獲取數據的速率，和當前大的AFM 控制器，幫助您完成實驗設想，甚至得到意想不到的數據。

l 材料成像:Icon支持Bruker技術PeakForce ONMI成像模式，研究者在獲得高分辨率形貌圖像的同時，還可以對樣品進行納米定量力學性能測試，同時獲得高分辨成像。此技術適用范圍很廣(模量從1MPa到 50GPa,粘附力從10pN到10uN)，可以對不同類型的樣品進行表征。

l 電學表征:模式，可以以更高的靈敏度和更大的動態范圍上實現電學表征。把這些研究與其他技術結合起來，比如Dark Lif，可在掃描電容顯微鏡，掃描擴散電阻顯微鏡，扭轉共振隧道電流原子力顯微鏡中獲得真正的無假象數據。

l 納米操縱:可實現在納米和分子級別的納米操縱和刻蝕。Icon的 XYZ閉環掃描器可實現無壓電蠕變效應和超低噪音的精密探針定位，適用于任何納米操縱系統。

l 加熱和冷卻:使用AFM不同模式掃描的同時，可實現-35°C到 250°C的溫度控制和熱分析。使用熱探針可以在小于100nm的樣品局部加熱，達到400°℃。