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化工儀器網>產品展廳>行業專用儀器及設備>其它行業專用儀器>量子效率測試系統>C15993-01 濱松ODPL 測量系統C15993-01

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C15993-01 濱松ODPL 測量系統C15993-01

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睿光科技有限責任公司是一家現代化高科技企業，我們為科研客戶、工業檢測客戶、航天航空及一般*客戶提供定制化的產品和解決方案，產品包括光電測量設備，圖像采集設備和通用傳感器設備，主要有激光器，光譜儀，CCD/CMOS/InGaAs相機，成像探測器，鏡頭，光源，采集卡，濾光片等。

激光器，光譜儀，CCD，CMOS，EMCCD，相機，探測器，濾光片

ODPL 測量系統使用積分球來測量全向光致發光光譜并確定樣品的發射效率。此過程是非破壞性和無接觸的，可以立即計算 IQE（內部量子效率）。IQE 是 GaN 單晶體質量評估所必需的，GaN 單晶體作為功率器件材料受到矚目。對鈣鈦礦晶體的質量評估也有必要，預計這些元素有助于提高太陽能發電和 LED 的效率。

*ODPL：全向光致發光


產品指標：


應用案例；

與半導體晶體類似，我們使用鈣鈦礦晶體，通過利用這些晶體的特性僅向上發射綠光，成功地從 ODPL 測量中計算 IQE。因此，IQE 至少達到 62.5%，我們發現 IQE 會根據甲基銨離子的過量還是不足而大幅波動。

ODPL measurement system Measurement example 2

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