模塊化的OCS樹脂粒子分析儀 (PA66)由以下部分組成：

■粒子黑點雜質檢測儀 (PS25C）可以檢測出與產品顏色有偏差的雜質

■粒子尺寸和形狀分布測試儀 (PSSD）根據顆粒的形態特性對粒子進行分類，如大粒、小粒、聯粒、拖尾、絲發、碎屑/粉塵等。

■色度測量儀（CM3）根據記錄的色譜測量相關的色度值（黃度指數、白度指數、CIE L*a*b*等）（選項）

另一個優勢是可將實時結果的數據傳輸到控制室 DCS 進行生產和工藝控制。

可測試的原材料

■高透明粒子

■不透明粒子

包括以下設備

■OCS 粒子黑點雜質檢測儀 (PS25C)

■OCS 粒子尺寸和形狀分布測試儀 (PSSD)

PS25C 特點

■高性能3CMOS彩色矩陣相機

■可檢測到的zui小雜質尺寸：10μm

■處理量可達25 公斤/小時，根據具體材料性能差異而不同

■結果實時可視化用于分揀缺陷顆粒的多彈片分揀系統

PSSD特點

■高速CMOS線掃描相機（單色）

■可檢測到的zui小雜質尺寸： 71 μm

■處理量可達18 公斤/小時，根據具體材料性能差異而不同

■結果實時可視化 (通過PS25C)