Camsizer 3D 麥奇克萊馳多功能3D分析粒徑及粒形分析儀
- 公司名稱 弗爾德（上海）儀器設(shè)備有限公司
- 品牌 Microtrac/拜爾
- 型號 Camsizer 3D
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/11/5 10:36:20
- 訪問次數(shù) 2380
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樣品前處理設(shè)備，包括研磨儀等一系列研磨粉碎設(shè)備，篩分儀；分析篩粒度分析設(shè)備，分樣儀；自動進(jìn)樣機(jī)；壓片機(jī)；清洗設(shè)備；干燥儀等實驗室輔助設(shè)備，Carbolite實驗室箱式馬弗爐；管式爐；灰分爐；工業(yè)定制馬弗爐及其他箱體設(shè)備(高溫烘箱、培養(yǎng)箱)，ELTRA（埃爾特）元素分析儀（碳硫分析儀、氧氮氫分析儀、熱重分析儀），verder氣動隔膜泵；新一代電子級氣動隔膜泵；軟管泵；蠕動泵；齒輪泵等
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,食品,制藥 |
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粒度和粒形分析器
CAMSIZER 3D 麥奇克萊馳多功能3D分析粒徑及粒形分析儀
功能強(qiáng)大的動態(tài)圖像分析
3D 分析和“顆粒跟蹤”技術(shù)
每個顆粒最多 30 張圖像
分析粒度和粒形(20 μm 至 30 mm)，無需調(diào)整硬件
測量時間短，僅需 2 到 5 分鐘
高樣品吞吐量
100% 識別超大顆粒
*篩析兼容性
優(yōu)異的可再現(xiàn)性
每秒鐘可實時評估最多 250 幀(3D 模式)
功能強(qiáng)大的耐用型 LED 光源
免維護(hù)
3D 顆粒跟蹤技術(shù)
CAMSIZER 3D 麥奇克萊馳多功能3D分析粒徑及粒形分析儀擁有裝料漏斗、振動輸送槽、LED 頻閃光源、功能強(qiáng)大的高速攝像機(jī)以及極為先進(jìn)的測量軟件。
顆粒通過計量槽被輸送至測量井和攝像機(jī)檢測區(qū)域，并在那兒以自由落體的形式執(zhí)行翻滾運動。CAMSIZER 軟件會跟蹤光源與攝像機(jī)之間的每個顆粒，并且每秒鐘可記錄最多 250 幀。在跟蹤顆粒期間，它會拍攝多張圖像，以顯示所有可能方向上的長度、寬度、厚度、周長、面積以及各種形狀值。該軟件會自動對齊圖像以方便觀察，每個顆粒最多有 30 張圖像。由此形成“3D 軌跡”，即同一顆粒在不同視圖中的圖像序列。這樣就可以計算基于不同尺寸或形狀參數(shù)的分布情況。可以使用過濾器來隔離對于定向分析具有特別意義的顆粒組。
軟件會在 3D 軌跡中確定單個顆粒投影的寬度和長度：
軌跡中所有長度測量的最大值就是顆粒的“3D 長度”
軌跡中所有寬度測量的最大值就是顆粒的“3D 寬度”
軌跡中所有寬度測量的最小值就是顆粒的“3D 厚度”
因此，針對具有不同尺寸或主要方向的顆粒(例如杏仁)，可以單獨顯示所有三個維度的粒度分布。
3D 分析對于具有特定形狀的顆粒來說特別有利，例如球形、細(xì)棒形(擠出物)、晶體狀或橢圓形(“橄欖球”形狀)。3D 顆粒跟蹤技術(shù)可以顯示大量投影，這還為形狀分析自動開辟了新的可能性。
3D 優(yōu)于 2D
形狀分析新方法
傳統(tǒng)的 2D 分析與之不同，在隨機(jī)方向上每個顆粒僅會捕捉一張圖像。即使以提高的抓幀率多次捕捉顆粒，在一個圖像與另一個圖像之間也不會形成“連接”。每個單獨的圖像都會被視作一個新的、獨立的測量事件。這樣會掩蓋真實的長度、寬度、厚度和形狀。更確切地說，在 2D 模式下測得的“長度”是真實 3D 長度與真實 3D 寬度的混合；在 2D 模式下測得的“寬度”是真實 3D 寬度與真實 3D 厚度的混合。
僅當(dāng)能夠以機(jī)械方式對齊顆粒時，才能在 2D 模式下獲得有說服力的結(jié)果。但在過去，這種方法僅適用于某些特定的顆粒形狀(例如圓柱形)。
在 2D 模式下測量
隨機(jī)定向測量粒度和粒形
適用于形狀不規(guī)則的材料、天然產(chǎn)品等
結(jié)果與篩析結(jié)果兼容
在 3D 模式下測量
長度、寬度和厚度的單獨分布
可靠識別缺陷或偏差
體積計算更加精確
雙攝像機(jī)原理提供了非常大的測量范圍
Microtrac MRB 的雙攝像機(jī)技術(shù)是動態(tài)圖像分析發(fā)展過程中的一個里程碑。通過同時使用兩個具備不同成像比例的攝像機(jī)實現(xiàn)了非常大的動態(tài)測量范圍。這一過程是在沒有進(jìn)行硬件調(diào)整或修改的情況下完成的，并且不會影響準(zhǔn)確性。
每個攝像機(jī)都專注于特定的粒度范圍：ZOOM 攝像機(jī)以高分辨率分析細(xì)顆粒，而 BASIC 攝像機(jī)則以優(yōu)異的數(shù)據(jù)統(tǒng)計功能檢測更大的顆粒。一種特殊的算法結(jié)合了兩個攝像機(jī)的信息，可滿足超過三個數(shù)量級的粒度范圍。
這種布置方式消除了許多僅使用一個攝像機(jī)的圖像分析系統(tǒng)(例如顯微鏡)的主要缺點。這種設(shè)備要么無法在寬的粒度分布中測量細(xì)顆粒，要么因視野太小而無法可靠檢測大顆粒。
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