安捷倫4155A 4155B 4155C 4156A 4156B 4156C 半導體參數分析儀    何S：158=8930=0166

安捷倫4155A 4155B 4156C 半導體參數分析儀

安捷倫4155A 4155B 4156C 半導體參數分析儀

深圳佳捷倫電子儀器有限公司

4156B 是安捷倫的半導體參數分析儀。半導體參數分析儀是用于各種測量功能的多合一工具。半導體參數分析儀可以測量和分析多種電子設備、材料、有源或無源元件、半導體或任何其他類型的電子設備的電氣特性。工程師使用這臺測試設備來監測不同類型設備中的電流和電壓響應。附加的功能：

高分辨率/準確度和寬范圍。I：1 fA 至 1 A（20 fA 偏移精度），V：1μV 至 200 V

采用直流或脈沖模式的全自動 IV 掃描測量，可擴展至 6 個 SMU

同步應力/測量功能，兩個高壓脈沖發生器單元 (±40 V)

時域測量：60μs – 可變間隔，最多 10,001 個點

易于使用：類似于曲線跟蹤器的旋鈕掃描，自動分析功能

自動化：內置 HP Instrument BASIC、觸發 I/O 功能

設置測量和/或壓力條件

控制測量和/或壓力執行

執行算術計算

在 LCD 顯示屏上顯示測量和計算結果

執行圖形分析

存儲和調用測量設置，以及測量和圖形顯示數據

轉儲到打印機或繪圖儀以進行硬拷貝輸出

使用內置的 HP Instrument BASIC 執行測量和分析

自檢、自動校準

Agilent HP 4156B 是下一代精密半導體參數分析儀。您將獲得數字掃描參數分析儀、可靠性測試儀、功能強大的故障分析工具和自動進貨檢測站，所有這些都集成在一臺儀器中。

   這個新系列經過明確設計，旨在為評估您的亞微米幾何器件提供的精度和功能。使用一臺靈活的儀器，您可以從材料評估和器件表征一直到最終封裝部件檢查和現場故障分析，提高您的半導體質量。

較高的低電流、低電壓分辨率和內置準靜態CV測量能力，4156B還為以后和其他的測量儀器的擴展使用提供了堅實的基礎。4156B是基于PC的參數分析和表征的解決方案，標準配置包括一個參數分析儀，Agilent I/CV 3.0 Lite自動測試軟件， Windows XP Professional的操作系統。I/CV 3.0 Lite軟件可以提供一個圖形操作界面，具有強大的分析工具，探針臺驅動，和自動測試工具特性· 4156B提供4個內置的高分辨率的源/監控單元（HPSMUs），兩個電壓源單元（VSUs）和兩個電壓監控單元（VMUs）· 1 fA 和0.2 uV的測試精度可滿足開發新工技術和評價材料· 全Kelvin，每個HRSMU有激勵源、感應和接地端· 完成準靜態的電容對電壓測試· 自動提取處理參數而不需要人工操作屏幕光標· 用極低泄漏的SMUs測量泄露特性· 用集成的脈沖發生器和選擇開關自動完成器件表征· 用內置的應力模式完成晶片的可靠性測試· 用圖形用戶界面完成點擊”測試· 基于Windows環境的圖形數據分析能力· 旋鈕掃描功能可以快速檢驗探針是否接觸正常· 待機模式不需要外部電源· 觸發模式可以同步AC/DC測試。

產品概述

Agilent 4156B / HP 4156B 精密半導體參數分析儀是用于器件表征的高精度單元。4156B 的低電流和低電壓分辨率以及內置的準靜態 CV 測量能力為未來與其他測量儀器的擴展奠定了堅實的基礎。該裝置配有四個電源/監控器單元、兩個電壓監控器單元和兩個電壓源單元

HRSMU：高分辨率 SMU（1fA/2mV 至 100mA/100V）

設置測量和/或壓力條件

控制測量和/或壓力執行

執行算術計算

在 LCD 顯示屏上顯示測量和計算結果

執行圖形分析

轉儲到打印機或繪圖儀以進行硬拷貝輸出

自檢、自動校準

使用內置 HP Instrument B 進行測量和分析

四個內置高分辨率源/監視器單元、兩個電壓源單元和兩個電壓監視器單元 ASIC

存儲和調用測量設置，以及測量和圖形顯示數據

品種齊全，貨源充足，存庫雄厚，服務快捷，維修能力強。

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