主要優點&特點：
1、更高的靈活性
為廣大用戶群體提供全遠程自動操作的、具備表征超大納米尺度范圍的工具。
*納米材料的發展和設計需要在超大納米尺度范圍上進行表征。
Xeuss 3.0具備這樣的測試能力，通過自動改變配置，采集的散射矢量q可跨越5個數量級。
因此，對于給定的單個或批量樣品，任何經過培訓的用戶都可以在完整的測量范圍內遠程操作系統。
可自動更改的測量設置包括：
- Q-Xoom通過探測器的自動平移來改變測量分辨率 
- 使用Bonse Hart USAXS模塊可以實現連續的SAXS/USAXS測量
- X光源能量可選，提供3個可選光源
- 用于原位SWAXS研究的可移動WAXS探測器

+ Q-Xoom在真空環境中移動探測器
Q-Xoom–享受全范圍計算機控制探測器行程的靈活性
- 特性：探測器在真空中沿光路自動移動1 ~ 4米（取決于所選型號）
- 虛擬探測器的探測面積大于200 x 200 mm²
- 在實驗過程中，遠程操作和實時數據顯示（二維和一維），減少了停機時間，優化您的實驗過程
- 將樣品放在固定位置為樣品環境留出空間
- 在真空中用純凈光、無窗探測器測試或在空氣中用X-Cones進行測試

+ 自動的Bonse-Hart USAXS模塊
測量尺度可達4.5微米，并獲取納米尺度信息
- 內外移動的分析晶體可確保在同一個樣品上USAXS和SAXS能夠自動連續采集
- 高質量SAXS和USAXS數據合并
- 無需人工操作或儀器重置
- USAXS和SAXS/WAXS入射光在一條直線上，故無需移動樣品

+ 多種光源
對任何種類樣品(吸收，熒光，特征尺寸)的實驗進行優化
- 在自動切換光源時儀器可自動校準光路
- 多達3個光源模塊 （Cu, Mo, Cr）可以與Ga MetalJet光源一起使用
- 不同光源的高精度切換，確保不同波長對同一樣品的連續測量

2、高性能
Xeuss 3.0實驗裝置靈活，用于測試各種樣品
尤其，以下關鍵特點使用戶得以優化實驗和結果:
- 高光通量設置和內置低背景無噪音探測器，適合快速動力學測試
- 探測器從WAXS位置自動移動到遠距離的SAXS位置，且在任意位置均可探測大面積圖譜，以優化分辨率和信噪比
- 遠距離的SAXS設置可測量大特征尺寸樣品(> 300 nm)
- 可選的USAXS模塊進行超大結構表征(> 4 μm)

- 單個二維探測器可采集的q_max優于49nm^-1

+ 無beamstop數據采集高動態范圍SAXS數據
- 杜絕來自Beamstop邊緣或探測器窗口膜的寄生散射，使低q處的散射信號不受干擾
- 在采集過程中同時記錄直通光和樣品散射信號，得到精確的透射強度，用于獲取精確的強度校正
- 采集的直通光信號將整合到數據分析軟件（XSACT），提高解析結果的準確性

+ 純凈光技術
- 作為一個標準的解決方案，Xeuss 3.0集成低維護成本的高性能微聚焦光源，亮度達到了之前高功率旋轉陽極靶光源才能實現的水平。
現在實驗室中就可進行諸如動力學研究或稀釋樣品的納米粒子形狀分析的高級實驗。另外，通過結合Xenocs公司的X射線光束和自動無散射準直系統實現高分辨率（光束Δq低），這對研究大特征尺寸的樣品或進行準確中間相的分析都非常重要。
通過以下組合實現高光通量和高分辨率：
- 持久的高亮度微聚焦光源
- 具有高立體采集角的單次反射多層膜光學聚焦鏡
- 樣品和探測器上光束尺寸二維可控

為了保證X射線散射的測試質量，包括稀釋的或對比度低的樣品，Xeuss 3.0將10多年研發的高光通量和低噪音技術相結合。
主要集成功能包括：
- 從聚焦鏡到探測器傳感層的全真空系統
- 第三代無散射準直 （于2008年由Xenocs引入市場）
- 真空中運行的無窗口探測器
- 混合像素光子計數探測器
- 宇宙背景自動扣除技術，減少環境寄生散射的影響

配備MetalJet光源，用于非常快的動力學研究

+ Q-Xoom具有非常大的探測面積
Q-Xoom采用電腦控制探測器全程移動，自動調節樣品到探測器距離，優化實驗。
虛擬探測器增強測試能力：在任意的樣品到探測器距離下，結合圖譜重構技術，任何規格的探測器的采集面積都將大于200 mm² x 200 mm²。
超大探測面積有利于優化各向異性樣品信號的方位角覆蓋，還有利于高分辨率測試，例如在距離樣品較遠處用偏置的探測器采集到更大的散射矢量，以表征較小的尺度。

3、樣品空間大
Xeuss 3.0的超大樣品腔有利于固定實驗過程中的樣品，這是目前以至今后的理想的X射線散射平臺儀器。
*材料的研究和表征需要集成特定的或定制的樣品環境。由于其*的線站理念，Xeuss 3.0非常適用于這種新項目。
包括：
- 在測試過程中樣品在大樣品腔中保持固定（軸方向可持續觀察樣品，智能集成用戶自定義樣品環境）
- 樣品臺的長距離平移可用于空間分布掃描和批量測試
- 多種標準樣品環境，并具備樣品臺識別功能