一、產品概述：

透射電鏡樣品桿清洗機是一款專為透射電子顯微鏡（TEM）樣品準備而設計的高效清洗設備。該機采用先進的清洗技術，通過超聲波和化學溶劑的結合，能夠有效去除樣品桿表面的有機污染物、灰塵和其他雜質，確保樣品在顯微觀察中的清潔和高質量成像。透射電鏡樣品桿清洗機具有自動化控制系統，操作簡單便捷，并且可根據不同樣品材料和清洗需求進行參數調節。廣泛應用于材料科學、納米技術和生物醫學等領域，為研究人員提供可靠的樣品處理解決方案，提高實驗結果的準確性和重現性。

CIF透射電鏡（TEM）樣品桿清洗機采用遠程離子清洗源設計，清洗快速高效，低轟擊損傷，同時可實現常規等離子清洗。主要用于TEM透射電鏡樣品桿的等離子體清洗和真空檢漏。

二、設備用途/原理：

·設備用途

透射電鏡樣品桿清洗機主要用于清洗透射電子顯微鏡（TEM）樣品桿，以去除其表面的有機污染物、灰塵和其他雜質，確保樣品在顯微觀察中的清潔與高質量成像。該設備廣泛應用于材料科學、納米技術和生物醫學等研究領域，提升實驗結果的準確性和重現性。

·工作原理

該設備通常采用超聲波清洗和化學溶劑相結合的方式進行清洗。首先，樣品桿被放置在清洗槽中，清洗液通過超聲波振動產生細小氣泡，這些氣泡在破裂時能夠有效去除樣品表面的污染物。同時，清洗液中的化學成分進一步分解和溶解雜質。清洗過程能夠均勻、全面地處理樣品桿，確保其表面達到所需的清潔度，以提高透射電子顯微鏡的成像質量和分析準確性。

三、主要技術指標：

四、產品特點

1. 遠程離子清洗源

2. 一機多用

3. 清洗快速高效，低轟擊損傷