K-Alpha X 射線光電子能譜儀系統(tǒng)
- 公司名稱 賽默飛電子顯微鏡
- 品牌 FEI/賽默飛
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/8/28 14:21:13
- 訪問次數(shù) 1583
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| 價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工 |
K-Alpha X 射線光電子能譜儀系統(tǒng)
K-Alpha X 射線光電子能譜儀系統(tǒng)用于高性能表面分析的 X 射線光電子能譜
Thermo Scientific K-Alpha X射線光電子能譜儀 (XPS)系統(tǒng)為表面分析帶來了一種新方法。K-Alpha XPS 系統(tǒng)專注于使用簡化的工作流程提供高質(zhì)量的結(jié)果，使 XPS 操作簡單直觀，而不會犧牲性能或功能。K-Alpha XPS系統(tǒng)是一種集成式單色小光斑XPS系統(tǒng)，具備深度剖析能力。
更先進(jìn)的性能、更低的價格、更容易的使用性和較大的樣品測試量，使 K-Alpha XPS 系統(tǒng)成為多用戶環(huán)境的理想選擇。K-Alpha XPS系統(tǒng)使世界各地的研究人員能夠進(jìn)行表面分析。
K-Alpha X 射線光電子能譜儀特點
高性能X射線源
K-Alpha X射線光電子能譜儀配備的X射線單色器允許在50 µm 至 400 µm 的分析區(qū)域內(nèi)以 5 µm 的步長進(jìn)行選擇選擇 ，以尋求所需的信號。
樣品視圖
使用K-Alpha XPS系統(tǒng)的光學(xué)觀察系統(tǒng)和XPS SnapMap聚焦樣品，幫助您快速確定分析測試區(qū)域。
深度剖析
使用K-Alpha X射線光電子能譜儀所配備的EX06離子源進(jìn)行更深層表面的分析。自動源優(yōu)化和氣體處理功能確保的性能和實驗重現(xiàn)性。
可選樣品臺
提供與K-Alpha X射線光電子能譜儀相匹配的各種特殊樣品臺供您選擇，包括用于變角 XPS、樣品加偏壓測試，或從手套箱惰性轉(zhuǎn)移樣品等等。
優(yōu)異的電子光學(xué)系統(tǒng)
高效電子透鏡、半球形分析儀和檢測器，讓K-Alpha X射線光電子能譜儀可實現(xiàn)的檢測和快速數(shù)據(jù)采集。
絕緣樣品分析
在K-Alpha X射線光電子能譜儀中，獲得的雙束電子源將低能量離子束與低能量的電子（小于 1 eV）耦合，防止分析過程中的樣品帶電，從而在大多數(shù)情況下消除了荷電效應(yīng)。
數(shù)碼控制
由 Avantage 數(shù)據(jù)系統(tǒng)指導(dǎo)的直觀操作使 K-Alpha XPS 系統(tǒng)成為多用戶、測試中心和注重高效操作和高測試量的 XPS 專家的理想選擇。
K-Alpha XPS系統(tǒng)性能數(shù)據(jù)
| 分析儀類型 |
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| X 射線源類型 |
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| X 射線光斑尺寸 |
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| 深度剖析 |
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| 樣品最大面積 |
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| 樣品最大厚度 |
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| 真空系統(tǒng) |
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| 可選配件 |
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