一、產(chǎn)品概述：

智能X射線衍射儀SmartLab系列，可以廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個(gè)領(lǐng)域。可以分析的材料包括：金屬材料、無機(jī)材料、復(fù)合材料、有機(jī)材料、納米材料、超導(dǎo)材料。可以分析的材料狀態(tài)包括：粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區(qū)微量樣品。

二、設(shè)備用途/原理：

·設(shè)備用途

1. 粉末樣品的物相定性與定量分析

2. 計(jì)算結(jié)晶化度、晶粒大小

3. 確定晶系、晶粒大小與畸變                    

4. Rietveld定量分析            

5. 薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度

6. In-Plane裝置可以同時(shí)測(cè)量樣品垂直方向的結(jié)構(gòu)及樣品深度方向的結(jié)構(gòu)

7. 小角散射與納米材料粒徑分布

8.微區(qū)樣品的分析。

·工作原理

X射線衍射儀的工作原理基于布拉格定律。當(dāng)X射線照射到晶體樣品時(shí)，晶體內(nèi)部的原子平面會(huì)引起X射線的衍射。通過測(cè)量不同衍射角度下的強(qiáng)度，儀器能夠繪制出衍射圖譜。根據(jù)衍射圖譜中的峰值位置和強(qiáng)度，研究人員可以確定樣品的晶體結(jié)構(gòu)、相組成以及其他晶體特性。這一過程通常需要高度精確的旋轉(zhuǎn)和檢測(cè)系統(tǒng)，以確保數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和可靠性。