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化工儀器網>產品展廳>分析儀器>X射線儀器>X射線熒光光譜儀(XRF)>XGT-9000 HORIBA堀場微區X射線熒光分析儀

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XGT-9000 HORIBA堀場微區X射線熒光分析儀

具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱 上海首立實業有限公司
  • 品牌 HORIBA/堀場
  • 型號 XGT-9000
  • 產地
  • 廠商性質 代理商
  • 更新時間 2024/3/21 7:09:10
  • 訪問次數 1823

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上海首立實業有限公司成立于2002年,是美國SOLY在中國投資的集科、工、貿于一體的綜合性實業公司。

目前在國內的主要有實驗室成套設備和生產工業用試劑兩大方面的業務。

其一:實驗室成套設備和實驗室工程方面,本公司是NIPPON DENSHOKU,HENKEL,SHEEN,DJH DESIGNS,TIMES,JICC,TPS,BLUE M,TABER,ERICHSEN等的授權經銷商和售后服務承包商。主營NIPPONDENSHOKU色差儀、色度儀、色差計、濁度儀、水分儀、分光測色儀、光澤計、密度計;儀立信Erichsen杯凸設備、島津EDX720 X熒光光譜儀、HORIBA XGT-1000WR,TPS,Blue-M高溫烘箱、TSA101(102,103)自動彈出式烘箱、紫外老化箱、光澤計、DJH膜厚儀、DJH MEK摩擦實驗儀以及其它鹽霧、磨耗、氙燈曝曬老化、紅魔鬼振蕩混合器、HENKEL鋁合金表面鈍化劑、皮膜劑,Taber磨耗儀等等相關實驗室設備耗材及實驗室工程;我司為涂料實驗室、RoHS實驗室、彩鋼實驗室及通用實驗室提供一攬子解決方案。

其二:生產加工,首立實業保稅區工廠主要生產出口工業電子油、金屬表面保護劑、微動開關觸點保護脂和防銹劑等工業試劑和耗材。注冊商標牌號:Cu606銅表面防變色保護劑,GR601觸點保護脂,AU602金表面防變色保護劑,AG603銀表面防變色保護劑,SN604錫表面防變色保護劑,NI605鎳表面防變色保護劑,FE607防銹油,F608高效防銹脂,RoHSColor六價鉻顯色劑。

董事長語錄:“品質未來。”

經營理念:“以實力求生存、以改革求發展。”

公司使命:“掌握*技術、研發優質產品;積累經驗、優化服務。”

員工守則:“專業、專注、誠信、高效”

經營目標:“提升自己、服務客戶、回報股東、回報社會。”

公司自成立以來,憑借正確的經營理念,加之科學的管理方法,同美國、加拿大、德國、韓國、瑞典、瑞士、日本、中國香港及中國臺灣地區等眾多企業和社會團體建立了穩定長久的業務合作關系并樹立了良好的信用度和企業美譽度。

公司尊重知識、尊重人才,注重技術、追求創新。我們熱忱希望同海內外各屆人士及同行精誠合作、面向未來、共創多贏。首立實業歡迎您蒞臨洽談!首立實業誠邀您加盟!

 

霧度計,色差儀,水質分析儀,煙氣分析儀,

價格區間 面議 行業專用類型 通用
儀器種類 臺式/落地式 應用領域 地礦,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣

HORIBA堀場微區X射線熒光分析儀

XGT-9000

 

速度和靈活性兼備是微區 X 射線熒光光譜的發展方向

   

<15µm高強度X射線頭,兼具高靈敏度和高空間分辨率

高分辨相機和多種照明模式成像

雙檢測器熒光X射線檢測器和透射X射線檢測器

輕元素檢測器使元素檢測范圍下延到C元素

 

HORIBA堀場微區X射線熒光分析儀

技術參數

型號

XGT-9000

XGT-9000SL

基本信息

儀器

微區X射線熒光分析儀

樣品類型

固體、液體、顆粒

檢測元素

輕元素檢測器:C* – Am
(常規檢測器:F – Am)

樣品倉尺寸

450(W) x 500(D) x 80(H)

1030(W) x 950(D) x 500(H)

最大樣品尺寸

300(W) x 250(D) x 80(H)

500(W) x 500(D) x 500(H)

樣品最大質量

1 kg

10 kg

光學觀察

兩個帶物鏡的高分辨率相機

光學設計

垂直同軸 X 射線和光學觀察

樣品照明/觀察

頂部、底部和側向照明/明場和暗場

X-射線管

功率

50 W

電壓

50 kV以下

電流

1 mA以內

靶材

Rh

X射線光光學系統

X射線頭數量

多達配置四個

光譜優化初級X-射線濾光片  

5個位置

檢測器

熒光X-射線檢測器

硅漂移檢測器(SDD)

透射X射線檢測器

NaI(Tl)

掃描分析

掃描范圍

100 mm x 100 mm

350 mm x 350 mm

步進尺寸

2 mm

4 mm

Operating mode

樣品環境

全真空/局部真空/大氣環境/He吹掃(選配)

局部真空/大氣環境/He吹掃(選配)*He吹掃條件對于兩個檢測器都檢測到C和F是必要的。




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