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SE-VF 光譜橢偏儀

參考價	￥750000-￥1200000/臺

具體成交價以合同協議為準

公司名稱 武漢頤光科技有限公司
品牌頤光科技
型號
所在地武漢市
廠商性質生產廠家
更新時間2025/2/8 9:59:19
訪問次數 2868

產品標簽

橢偏儀光譜橢偏儀膜厚測量

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武漢頤光科技有限公司（Wuhan Eoptics Technology Co,Ltd）是國內從事橢偏儀以及光學納米測量設備研發、制造與銷售的企業。公司由多位具有二十多年偏振光學測量經驗的專家聯合創辦，與華中科技大學緊密合作，現有員工80%以上擁有碩士或博士學位，是橢偏光學儀器領域非常有優勢的技術團隊。

頤光科技注冊于武漢東湖國家自主創新示范區，立足光谷，面向，為用戶提供光學散射測量儀等系列產品，并提供儀器、軟件、服務等綜合解決方案。產品廣泛應用于集成電路、半導體、光伏太陽能、平板顯示、LED照明、存儲、生物、醫藥、化學、電化學、光學鍍膜和保護膜、減反膜、光刻材料等眾多領域。

頤光科技充分利用武漢地區的交通便利和人才優勢，立志成為中國的光學儀器設備研發創新平臺和產業化基地，立志成為企業值得信賴的合作伙伴。

展開

光譜橢偏儀，反射膜厚儀

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產地類別	國產	價格區間	面議
應用領域	電子,航天,電氣,綜合

一、概述

SE-m 是一款針對半導體行業定制的微區圖形結構測量的專用型光譜橢偏儀，其采用 1 超小微光斑探測測量技術， 2 定制超快測量速度等技術。可應用透明各類襯底上的減反膜、導電膜等薄膜的n/k/d測量，適用于微區圖形的各種光學參數解析。

二、特色功能

■ 可定制光斑尺寸，最小可達30um；

■ 超快測量，單次測量時間小于0.5秒；

■ 系列配置靈活，支持功能定制設計；

■ 結構緊湊，更適應在線集成測量。

三、測量實例

微區圖形結構測量

四、應用場景

應用于光學常數測量，適用于各類光學薄膜等鍍膜檢測應用。

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