SPM-Nanoa 掃描探針顯微鏡
- 公司名稱 島津企業管理(中國)有限公司
- 品牌 SHIMADZU/島津
- 型號 SPM-Nanoa
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/9/6 10:08:32
- 訪問次數 623
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產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
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儀器種類 | 原子力顯微鏡 | 應用領域 | 生物產業 |
高靈敏度 · 高精度 · 高分辨率 「簡單•易懂的操作」
從軟件到硬件凝結了全新技術,鑄就了新一代EPMA。島津EPMA掃描探針顯微鏡在保持了一貫的高靈敏度·高精度·高分辨率的基礎上,又新增了簡單·易懂的操作性能,將電子探針功能發揮至*致。既可滿足初學者簡易操作的需求,又能適合專家級的科研分析。
前沿設計的X射線分光器可以實現高靈敏度·高精度分析
X射線取出角決定分析性能,52.5°高取出角更勝一*
圖為小孔穴中異物的分析實例。左下圖為鐵(Fe)、右下圖為鈦(Ti)的元素分布。因EPMA-1720具有高取出角,對表面凹凸明顯的樣品也能進行高精度分析。
從SEM觀察到開始分析,簡便易行,大幅度提高工作效率。
同一顯示器上同時顯示高靈敏度的光學圖像和SEM圖像
在同一個顯示器上觀察光學圖像和SEM圖像。
SEM圖像和光學圖像在同一顯示器上,減少視線的移動。
通過高靈敏度的CCD可以觀察很暗的樣品。
只需單擊一下即可開始SEM圖像觀察。
只需點擊【SEM AUTO】圖標,就可以根據事先設定的條件進行SEM圖像的觀察。
束流變換更加簡單·快速·高精度,且保持聚焦。
只需選定束流目標值即可快速、高精度地自動設定束流。
通過聯動控制,束流大小改變后也能保持圖像聚焦狀態。
※掃描探針顯微鏡外觀及規格的變動,恕不另行通知。