TH2838H阻抗分析儀

TH2838H阻抗分析儀

簡介  

TH2838/TH2838H/TH2838A是采用自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器，其0.05%的基本精度、最快達5.6ms的測試速度、20Hz-2MHz的頻率范圍及高達1GΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質因數(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規五端配置的儀器向下擴展了十倍。  TH2838/TH2838H/TH2838A支持20V交流測試信號和40V直流偏置的高功率測試條件、增強的多參數列表掃描/多參數圖形分析能力將有利于用戶擴展元件全面評價的能力。  TH2838/TH2838H/TH2838A是電子元器件設計、檢驗、質量控制和生產測試的強有力工具。它的優良性能和功能為電路的設計和開發以及材料（電子材料和非電子材料）的研究和開發提供了強有力的工具。  TH2838/TH2838H/TH2838A以其性能可以實現如IEC和MIL標準的各種測試。

功能特點

A. 高精度

B. 高穩定性和高一致性

C. 高速度

D. 功能與界面

E. 材料介電常數測試

F. 選配附件

應用

無源元件:

電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析

半導體元件:

LED驅動集成電路寄生參數測試分析；變容二極管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數分析

其它元件:

印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估

介質材料:

塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估

磁性材料:

鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估

半導體材料:

半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性液晶材料：液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特性

信號源輸出阻抗100Ω， ±1% @1kHz

測試頻率范圍20Hz-2MHz20Hz-1MHz

設置步進20.0000Hz - 99.9999Hz                         1mHz

100.000Hz - 999.999Hz                         10mHz

1.00000kHz - 9.99999kHz                        100mHz

10.0000kHz - 99.9999kHz                        1Hz

100.000kHz - 999.999kHz                        10Hz

1.00000MHz - 2.00000MHz                        100Hz

AC測試信號模式額定值(ALC OFF)：設定電壓為測試端開路時Hcur電壓設定電流為測試端短路時從Hcur流出電流恒定值(ALC ON)： 保持DUT上電壓與設定值相同 保持DUT上電流與設定值相同

AC信號電壓范圍5mVrms -- 2VrmsF≤1MHz  5mVrms-- 20Vrms F >1MHz  5mVrms -- 15Vrms5mVrms -- 2Vrms

分辨率5mVrms -- 0.2Vrms                            100µVrms

0.2Vrms -- 0.5Vrms                           200µVrms

0.5Vrms -- 1Vrms                              500µVrms

1Vrms -- 2Vrms                              1mVrms

2Vrms -- 5Vrms                              2mVrms

5Vrms -- 10Vrms                             5mVrms

10Vrms -- 20Vrms                             10mVrms

電流范圍50µArms -- 20mArms50µArms --100mArms50µArms -- 20mArms

分辨率50µArms -- 2mArms                             1µArms

2mArms -- 5mArms                             2µArms

5mArms -- 10mArms                             5µArms

10mArms -- 20mArms                            10µArms

20mArms -- 50mArms                            20µArms

50mArms--100mArms                             50µArms

Rdc測試電壓范圍100mV — 2V

分辨率100µV

電流范圍0mA— 20mA

分辨率1µA

DC偏置電壓范圍0V — ± 10V0V — ± 40V0V — ± 10V

分辨率0V -- 5V                                   100µV

5V -- 10V                                  1mV

10V -- 20V                                 2mV

20V -- 40V                                 5mV

電流范圍0mA— ± 100mA

分辨率0 A -- 50mA                                 1µA

50mA -- 100mA                               10µA

電壓源電壓范圍-------10V -- 10V------

分辨率------1mV------

電流范圍-------45mA -- +45mA------

輸出阻抗------100Ω------

顯示器

尺寸/類型7英寸 (對角線)TFT LCD顯示器

比例16：9

分辨率800×RGB×480

測量功能

測試參數Cp-D,Cp-Q,Cp-G,Cp-RpCs-D,Cs-Q,Cs-RsLp-D, Lp-Q, Lp-G, Lp-Rp, Lp-RdcLs-D, Ls-Q, Ls-Rs, Ls-Rdc, RdcR-X, Z-θd, Z-θrG-B, Y-θd, Y-θrVdc-Idc

數學功能A(X+B)+C， X為測試參數，A、B、C為輸入參數

等效電路串聯、并聯

偏差測量與標稱值的絕對偏差Δ，與標稱值的百分比偏差Δ%

校準功能開路OPEN、短路SHORT、負載LOAD

量程選擇自動AUTO、手動HOLD

量程LCR100mΩ、1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、 100kΩ，共15檔

Rdc1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ，共15檔

觸發模式INT、MAN、EXT、BUS

觸發延遲0 s -- 999 s，分辨率100us

測試端配置四端對

測試電纜長度0m, 1m, 2m, 4m

測量平均1-255次

測量時間(ms)速度模式20Hz100Hz1kHz10kHz100kHz1MHz2MHz

FAST330100207.75.75.65.6

MED38018011092898888

LONG480300240230220220220

測量顯示范圍         a   1×10-18；  E   1×1018

Cs, Cp±1.000000 aF -- 999.9999 EF

Ls,Lp±1.000000 aH -- 999.9999 EH

D±0.000001 -- 9.999999

Q±0.01 -- 99999.99

R, Rs, Rp, X, Z, Rdc±1.000000 aΩ -- 999.9999 EΩ

G,B,Y±1. 000000 aS --  999.9999 ES

Vdc ±1.000000 aV -- 999.9999 EV

Idc±1.000000 aA -- 999.9999 EA

θ r±1.000000 a rad -- 3.141593 rad

θ d±0.0001 deg -- 180.0000 deg

Δ%±0.0001% -- 999.9999%

t無

Turn Ratio (待擴展)±0.000000 -- 1000.000

基本測量準確度0.05%(詳見說明書)

列表掃描

掃描點數最多201點

掃描參數測試頻率、AC電壓、AC電流、DC BIAS電壓、DC BIAS電流

第二掃描參數無、量程方式、測試頻率、AC電壓、AC電流、DC BIAS電壓、DC BIAS電流、直流源電壓。注：已選擇的第一掃描參數參數不能再選為第二掃描參數。

觸發模式順序SEQ當一次觸發后，在所有掃描點測量。/EOM/INDEX只輸出一次。

步進STEP每次觸發執行一個掃描點測量。每點均輸出/EOM/INDEX，但列表掃描比較器結果只在最后的/EOM才輸出。

列表掃描比較器可為每個掃描點設置一對下限和上限。可選擇：通過第一掃描參數判斷/通過第二參數判斷/不用于每一極限。

列表掃描時間標記在順序模式中，將觸發點設定為0時，通過定義時間就可在每個測量點記錄測量開始的時間。

圖形掃描分析

掃描點數51、101、201、401、801點可選------

掃描軌跡主/副參數可選擇------

顯示范圍自動、鎖定------

坐標標尺對數、線性------

掃描參數頻率、ACV、ACI、DCV BIAS/DCI BIAS、直流電壓源------

掃描結果顯示主/副參數最大值/最小值、設定點主/副參數值------

掃描圖形存儲掃描圖形可存儲于儀器內部FLASH、外部USB存儲器或上傳上位機。------

比較器

Bin分檔主參數9 BIN、OUT_OF_BINS、AUX_BIN和LOW_C_REJECT

副參數HIGH、IN、LOW

Bin極限設置絕對值、偏差值、百分偏差值

Bin計數0 -- 999999

PASS/FAIL指示滿足主參數為9 BIN之一、副參數為IN，前面板PASS燈ON，否則FAIL ON

測量輔助功能

數據緩沖存儲功能201個測量結果可分批讀取

保存/調用功能40組儀器內置非易失存儲器測試設定文件500組儀器USB存儲器測試設定文件/截屏圖形/記錄文件

鍵盤鎖定功能可鎖定前面板按鍵

接口

USB HOST端口通用串行總線插座，A類；FAT16/FAT32格式。U盤存儲或條形碼掃描

USB DEVICE端口通用串行總線插座，小型B類（4個接觸位置）；與USBTMC-USB488和USB 2.0相符合，陰接頭用于連接外部控制器。

LAN10/100BaseT以太網，8引腳，兩種速度選擇

HANDLER接口用于Bin分檔信號輸出

外部DC BIAS控制控制TH1778/TH1778S偏置電流源，最多一臺TH1778+5臺TH1778S (120A MAX)

RS232C標準9針，交叉

GPIB (選件)24針D-Sub端口（D-24 類），陰接頭與IEEE488.1、2和SCPI兼容。

現售阻抗分析儀