納米粒度儀SZ-100V2，能表征納米顆粒的三個參數：粒徑、Zeta 電位和分子量，一臺設備、三種功能，可對每個測量參數進行高靈敏度、高精度的分析。

納米技術是一門交叉性很強的綜合學科，研究的內容涉及現代科技的廣闊領域。納米科學與技術涵蓋納米化學、納米材料學、納米生物學、納米電子學、納米加工學、納米力學等 。這七個相對獨立又相互滲透的學科和納米材料、納米器件、納米尺度的檢測與表征這三個研究領域。納米材料的制備和研究是整個納米科技的基礎。

粒徑測量范圍0.3nm~10µm。

納米粒度儀SZ-100V2采用動態光散射 (DLS) 原理測量顆粒粒徑大小及分布，實現了超寬濃度范圍的樣品測量，該系列可準確測量低至ppm 級低濃度、高至百分之幾十的高濃度樣品。可使用市售的樣品池，也可實現對小體積樣品的測量。

Zeta電位測量范圍–500~+ 500mV。

使用 HORIBA Zeta電位樣品池測量Zeta 電位值只需樣品100 μL，通過Zeta電位可預測和控制樣品的分散穩定性。Zeta 電位值越高，則意味著分散體系越穩定，這對于產品配方的研究工作具有重大的意義。

分子量測量范圍1×10 3 ~ 2 ×10 7Da。

通過測量不同濃度下的靜態光散射強度并通過德拜記點法計算樣品的絕對分子量 (Mw) 和第二維里系數 (A2 )。

SZ-100V2 系列具有良好的復雜信息處理能力和學習能力，可快速確定納米顆粒的特性！

SZ-100V2 系列具有雙光路設計，既可以測量高濃度的樣品，如漿體和染料；同時也可以用于測量低濃度樣品，如蛋白質、聚合物等。

使用單臺設備即可表征納米顆粒的三大參數——粒徑、Zeta 電位和分子量。

Zeta 電位樣品池可防止樣品對其造成污染。樣品池容量（容量100 μL）小適用于稀釋樣品的分析。

Zeta 電位樣品池的電極由碳材料制成，該材料不會受到鹽溶液等高鹽樣品的腐蝕。