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化工儀器網>產品展廳>半導體行業專用儀器>集成電路測試與分選設備>探針臺> 美國GGB探針

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美國GGB探針

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上海騏銳信息科技有限公司專注于行業領域,高低溫介電常數/高低溫下電性能測試系統/工業自動化/精密儀器/航空航天高性能材料測試系統、傳感器生產與技術服務。我們以技術創新為核心驅動力,致力于為客戶提供高效、智能、定制化的設備解決方案,助力全球客戶提升生產效率、優化產品質量并實現可持續發展。

核心技術優勢:

? 研發實力

擁有一支由資深工程師、行業專家及高??蒲袌F隊組成的復合型研發團隊,累計獲得多項發明專利及實用新型專利。

? 技術亮點

自主研發核心產品技術,如:高低溫下介電常數/材料電性能高低溫測試/模塊化設備架構/能耗優化系統等。

采用數字化仿真/工業大數據分析/虛擬調試等先進技術,縮短研發周期30%以上。

? 產學研合作

與高校/科研院所名稱建立合作,共同攻關行業關鍵技術難題。

 

產品與服務體系:

?? 核心產品線

1. 智能生產線集成:面向制造業的自動化裝配、檢測及自動化測試系統。

2. 專用設備定制:材料測試系統、半導體精密加工設備、新能源電池模組封裝設備等。

3. 智能運維平臺:設備遠程監控、預測性維護及數據分析服務。

?? 服務模式

- 全生命周期支持:從需求分析、方案設計到安裝調試、售后維保的一站式服務。

 

成功案例

研發的設備型號獲獎項/認證

服務覆蓋行業領域,如:汽車制造/生物醫藥/光伏新能源頭部企業

我公司與以下國內外廠商建立了長期合作關系:日本安立公司、美國泰克Tektronix 公司、南京盛普、Sample 公司 、美國福祿克Fluke 公司、北京普源精電 、Rigol公司、美國安捷侖Agilent公司、中國臺灣茂迪Motech公司、美國艾法斯 Aeroflex公司、 中國臺灣固緯Goodwill公司、美國吉時利Keithley公司、日本巖崎Iwatsu公司、美國國家儀器NI公司、日本愛德萬 Advantest公司、美國Magtrol公司、德國惠美Hameg公司、韓國Tescom公司、安徽41所、韓國金進 Jungjin公司、常州同惠等。

 

 

電子儀器儀表 材料測試

美國GGB探針簡介:

  GGB ST系列硬針   (鎢材質 ,常用款,推薦)

   ST系列硬針是 0.020 inch (0.51mm) 直徑鎢材質針桿經過精密電化學加工成為不同的針尖直徑  ,長度為  1.5inch(38.1mm)的探針。    這 種探 針應用與絕大多數的芯片電極點測和線路點測。    ST系列硬針可以用于與刮擦或者刺穿芯片表面鈍化層。    該探針可以選擇表面鍍鎳, 如果選擇 鍍鎳則型號后面增加   “NP”。

ST系列硬針規格

 

型號

桿直徑

尖直徑

QR-20-0.5

0.020" (0.51mm)

<1.0micron

5pc/box

ST-20-1.0

0.020" (0.51mm)

<2.0 micron

5pc/box

ST-20-2.0

0.020" (0.51mm)

<5.0micron

5pc/box

ST-20-5.0

0.020" (0.51mm)

<10.0micron

5pc/box

ST-20-10.0

0.020" (0.51mm)

<20.0 micron

5pc/box

ST-20-25.0

0.020" (0.51mm)

<50.0 micron

5pc/box

ST-20-50.0

0.020" (0.51mm)

<100.0 micron

5pc/box

ST-20-100.0

0.020" (0.51mm)

<200.0 micron

5pc/box

 

ST系列探針尺寸

 

222.png 

 

ST系列探針實物

   GGB T-4 系列軟針   (鎢材質)

T-4 系列軟針較多的應用于點測集成電路的線路 ,電極 ,或者  FIB(聚焦離子束) 制作的 mini 電極。

T-4 系列軟針的結構采用不同直徑鎢材質針須焊接于鍍錫的銅材質針桿上。

•其中 T-4-10 和 T-4-22 兩款是客戶反饋比較有優勢的型號 ,因為其針須直徑較細  ,具有良好的彎曲彈性  ,能夠極大的減少對芯片電極 的損害  ,在部分震動環境下面也能夠保證和電極的良好接觸。

T-4 系列硬針規格

 

型號

鎢材質針須直徑

尖直徑

須長度

T-4-5

5 micron

<0.2micron

0.13" (3.3mm)

5pc/box

T-4-10

10 micron

<0.2 micron

0.13" (3.3mm)

5pc/box

T-4-22

22 micron

<2.0 micron

0.20" (5.1mm)

5pc/box

T-4-35

35 micron

<4.0 microns

0.20" (5.1mm)

5pc/box

T-4-60

60 micron

<6.0 microns

0.20" (5.1mm)

5pc/box

T-4-125

125 micron

<10.0 microns

0.20" (5.1mm)

5pc/box

 

C.        GGB 高性能微波探頭  (可提供無磁款)

常用Model 40A系列

品特點:

( 1)   測試頻率范圍:      DC to 40 GHz

( 2)   輸入衰減   ≤ 0.8db

( 3)   反射損耗≧ 18 db

(4)   腳間距:25 to 2540um  (腳間距越大  ,    損耗越嚴重)

( 5)   測試重復性優于-80db

( 6)   單獨彈簧加載觸點設計

( 7)   材質:      BeCu , TungQRen or Nickel tips available

( 8)     GSG  ,    SG  ,    SG  ,    GSGSG 等可選

( 9)   同軸設計

 

S12  S11 實測數據  (插損和回損)

 品選型:

Example    40A-GSG-150-P 代表頻率最高到 40G ,GSG 三個端口 ,其中G與S之間的腳間距是150um ,外形是  P 型。 Model 40-  (端口)  -  (間距)  -  (外形)

備注:在磁場中 ,一般選用無磁款。


 

QRyle 風格:       (特殊要求,可以客制化)

 

 

D.   GGB 12C有源探頭

 

•輸入電容0.1pf

•輸入電阻1.0兆歐

•工作電壓范圍 -10 to +20V

•帶寬dc to 500 MHz

• 12C夾具換用探針  ( 12C-x-xx)

•射頻探針夾具源 ,以同時支持兩個探頭使用  ( PS-2)

 

 

 

 

 

 

 

美國APT開爾文探針

 

電學特點

Current leakage: < 10 fA   (漏電精度高)

Frequency: > 150 MHz       (測試頻率高)

Capacitance (Guarded): < 10 fF

Impedance: 50 Ohm

Power Handling: > 125 Watts @ 18-21 Deg. C

Voltage Rating: > 250 Volts RMS @ sea level

 

注:

APT爾文探針適用于四線法測試 ,以減小線阻和接觸電阻對測試的影響 ,保證小電阻的測試準確性。

另外 ,一些高頻測試 ,比如150M左右 ,也可以采用這個。 

 




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