SURTRONIC S116粗糙度儀

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116測試參數(shù)：

三個(gè)取樣長度：0.25mm、0.8mm、2.5mm

二個(gè)濾波器：2CR、Gaussian

評定長度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選

大行程：17.5mm

泰勒霍普森粗糙度儀測試速度：

泰勒霍普森粗糙度儀測試速度：1mm/sec(0.04 in/sec)

泰勒霍普森粗糙度儀回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)

泰勒霍普森粗糙度儀測試參數(shù)：

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007

ISO標(biāo)準(zhǔn)可以測量12個(gè)參數(shù)： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max

ASME標(biāo)準(zhǔn)可以測量11個(gè)參數(shù)：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda

JIS標(biāo)準(zhǔn)可以測量14個(gè)參數(shù)：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

其他 ：R3z (Daimler Benz)

測試單位：um/uin

SURTRONIC S116粗糙度儀

SURTRONIC S116比SURTRONIC25有如下改進(jìn)：

1、電池由堿性9V改為鋰電充電電池；

2、顯示屏為觸摸屏；

3、可以顯示測試圖形；

4、SURTRONIC25只能測試10個(gè)參數(shù)，S116在不同標(biāo)準(zhǔn)下可以測量12、11、14個(gè)參數(shù)（見技術(shù)參數(shù)）；

5、原來SURTRONIC25使用電位器校準(zhǔn)測試結(jié)果，現(xiàn)在改為自動軟件校準(zhǔn)。方便使用；

6、顯示屏顯示的結(jié)果（數(shù)據(jù)和圖形）可以旋轉(zhuǎn)，可以方便的從四個(gè)方向觀察測試結(jié)果；

7、儀器底部為V形，測試軸類部件方便可靠；

8、測試數(shù)據(jù)存儲增加了存儲圖形功能；

9、可以使用U盤直接存儲，一個(gè)4G容量U盤可存儲3.9萬個(gè)圖形，數(shù)據(jù)可以存儲70批次，每批次為10萬個(gè)測試數(shù)據(jù)。