JT-2000比表面積及孔隙率分析儀，只展示該款型號部分參數，更多關于JT-2000系列比表面積及孔徑分析儀咨詢客

JT-2000系列比表面積及孔徑分析儀 型號:JT-2000P1/P2/P4/P6/P8/P12。

請根據實際需求選擇合適的型號，型號是根據分析站數量、脫氣站數量來區別。

一、產品簡介

JT-2000系列比表面及孔隙率分析儀是一款應用于介孔、大孔納米材料的單/多分析站*自動物理吸附分析儀；對于微孔樣品也能做簡單分析。

JT-2000系列比表面積及孔徑分析儀采用一體化設計，即脫氣模塊集成于儀器主機上，為實驗室減少空間；同時其脫氣模塊和分析模塊又相互獨立，具有獨立的氣路系統、檢測系統和真空系統，可以同時運行，互不影響，提高質量控制分析的檢測速度；每個分析口配備獨立壓力傳感器，獨立的飽和蒸氣壓探測系統，在分析過程中實時監測飽和壓力，確保數據的準確性。

二、比表面及孔隙率分析儀技術參數

1.分析方法：靜態容量法；

2.測試數據：比表面積≥0.0001m2/g，孔徑分析0.35nm-500nm；

3.分析精度：重復性±1%（≤1m2/g的樣品：±1.5%）；

4.分析站：1個樣品分析口，1個P0實時測試位(分析站和脫氣站數量可根據用戶自行選擇 1、2、3、4、6、8)；

5.杜瓦瓶：3.5L大容量杜瓦瓶（可定制4L，用戶自行選擇）；

6.吸附氣體：各種惰性氣體等；

7.樣品脫氣站：單站式樣品制備站，擁有獨立控溫系統及真空系統，溫度上限400℃，配置獨立機械泵，脫氣站可與分析站同時工作，脫氣時間和溫度可在主機界面設置和更改；

8.分析溫度：除常用低溫氮吸附外，還可選配等溫夾套，進行0℃-60℃的氣體等溫吸附測試；

9.硬件系統控制：

(1)壓力檢測系統：分析口配置獨立進口壓力傳感器,軟件端可實時查看各位置壓力值，飽和蒸汽壓測試位配置獨立的壓力傳感器，對飽和蒸氣壓進行實時采集；

(2)氣路控制系統：應用真空抽氣動態調速技術（I-PID）及集裝式氣路；

(3)分壓范圍：擁有獨立的P0分析口，P/P0 4×10－7－0.995，Po分析口配有獨立的壓力傳感器，以確保飽和蒸氣壓的實時數據采集；

(4)真空系統: 配置雙級旋片機械泵，極限真空為4×10－2Pa；

(5)液位控制系統：溫差動態校準技術彌補傳統液位傳感器技術定位誤差，可用于不同溫度的冷卻劑，使系統保持死體積小；

(6)數據采集系統：24位模數轉換系統，擁有儀器意外斷電數據存儲功能。

10.數據處理：BET比表面積/吸附及脫附等溫線/BJH孔體積分析/孔面積分析/總孔容積/總孔面積/ Langmuir法比表面積分析/T-plot內外表面積及微孔體積/DR微孔面積及微孔體積/HK微孔分布/MP微孔分布等。

11.其它：主機長550mm，寬550mm，高850mm；功率800W；工作電壓220V。