Fischerscope XDV-SDD費希爾江蘇代理銷售

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Fischerscope XDV-SDD通用X射線熒光分析儀，用于根據ISO 3497和ASTM B 568標準自動測量超薄鍍層（0.05μm）百萬分之一以下的精細材料分析
費希爾江蘇代理銷售使用Fischer公司超大有效面積的硅漂移探測器（SDD 50 mm2）
費希爾江蘇代理銷售6種可切換基本濾片和4種可切換準直器優化測量條件
分析輕元素，例如鋁，硅和磷
樣品高度高達14厘米
高精度，可編程XY工作臺，定位精度為5 µm，用于小型結構的自動測量；
結構堅固，可進行連續測試，具有的長期穩定性
經過認證的全面防護裝置

菲希爾XDV-SDD是Fischer產品組合中功能大的X射線熒光分析儀之一。該XRF光譜儀配備了特別靈敏的硅漂移檢測器（SDD）。這使您能夠無損地測量的鍍層，例如引線框架上約2nm厚的金涂層。
同時，菲希爾XDV-SDD非常適合無損分析材料。例如，它對塑料中痕量鉛的檢測靈敏度約為2 ppm，比RoHS或CPSIA要求的值低幾個數量級。
費希爾江蘇代理銷售為了使您可以為每次測量創建理想的條件，XDV-SDD具有可切換的準直器和基本濾片，這樣就可以科學地進行工作。此外，這種耐用的設備易于操作，而且是專為工業用途的系列測試而設計。自動擴展的測量平臺和測量現場的實時圖像等功能使您的日常工作更加輕松。