集成X射線電離功能的通用掃描電遷移率粒徑譜儀

適用于8-1200 nm的各種應用

PALAS設備U-SMPS 2050X/ 2100 X / 2200 X

PALAS設備U-SMPS通用掃描電遷移率粒徑譜儀

Palas@通用掃描電遷移率粒徑譜儀(U-SMPS)可提供兩種版本。長分類柱(2050X/2100X / 220O型號)可以確定8至1200 nm的粒徑分布。該系列已經集成了X射線源作為中和器（參見圖1)，代替放射性中和器（例如使用Kr-85〉，優點是在運輸過程中無需遵循針對放射源的要求。

PalasRU-SMPS系統包括一個分級器[在ISO15900中定義為電遷移率分級器(DEMC)，也稱為微分遷移率分析儀(DMA)]，可根據氣溶膠顆粒的電遷移率選擇相應的氣溶膠顆粒并傳送到出口。

冷凝顆粒計數器（例如UF-CPC）對這些顆粒進行計數。三種可用的UF-CPC型號可在各種濃度范圍內實現很好的單顆粒計數。Palas使用了由Wiedensohler教授〈(IfTLeipzig，德國）開發的演算算法，將測量數據轉化為U-SMPS的顆粒分布。

PALAS設備U-SMPS通用掃描電遷移率粒徑譜儀U-SMPS使用圖形化用戶界面并在觸摸屏上進行操作。一次粒子分布掃描可以在短短30秒之內執行，并且每十進制多達128個尺寸通道。在掃描期間，DEMC分級器中的電壓連續變化，從而導致每個尺寸通道的計數統計效率更高。集成的數據記錄器允許在設備上設置線性或對數顯示測量值。隨附的評估軟件可提供各種數據評估(各種統計和平均值)，以及導出功能。

U-SMPS通常作為獨立設備運行，但也可以連接到計算機或使用各種接口(USB，LAN，WLAN，RS-232/485)連接網絡。PalasRU-SMPS支持DMA，CPC和其他制造商的氣溶膠靜電計。

U-SMPS對顆粒物準確的尺寸確定和可靠性能極其重要，尤其是對于校準來說。所有組件都必須通過嚴格的質量保證測試，并且必須內部組裝。

圖2∶給出了U-SMPS的工作原理:氣溶膠在進入分級器（DEMC)之前先經過調節。選配的干燥器（例如硅膠，Nafion)可以去除顆粒中的水分。雙極中和劑(RC 049)用于確保氣溶膠電荷分布符合預定。在DEMC的入口處需要一個撞擊器以去除大于分級器尺寸范圍的顆粒。

氣溶膠通過DEMC柱的進樣口導入，沿著外部電極與鞘氣合并。合并過程要避免湍流，確保層流。電極的表面必須極其光滑和精準。

該鞘氣是干燥的、無顆粒的載氣(通常為空氣)，比氣溶膠的體積大，且在閉環中連續循環。鞘氣與樣品空氣的體積比決定了傳遞效率，從而決定尺寸分級器的分辨率。

在內部和外部電極之間施加電壓產生徑向對稱電場。內電極帶正電，末端有一個小縫隙。通過平衡每個粒子上的電場力及其在電場中的空氣動力學阻力，帶負電顆粒轉移到正電極。根據它們的電遷移率，一些顆粒會通過頂部小縫隙離開DEMCo

在操作中，電壓產生的電場持續變化，使得不同遷移率的顆粒離開DEMC，并由納米粒子計數器（例如冷凝粒子計數器）連續測量計數（例如Palas R UF-CPC)。

方便實用的軟件提供多數據信息（如電壓，粒子數等）并取得粒徑分布數據，如圖3所示。

基于客戶反饋優化過的用戶界面和軟件可以進行直觀的操作、實時控制并顯示測量數據和參數。

此外，通過集成的數據記錄器、完善的導出功能和網絡連接，該軟件可以實現數據管理功能。測量數據有多種形式顯示和評估。

優點：

·粒徑分布范圍為8nm至1.2um

·7英寸觸摸屏和GUI直觀操作

·連續快速掃描測量原理

·內置數據記錄儀

·高分辨率，zui多128個尺寸通道/十進制

·支持多種接口和遠程訪問

·適用于zui高108顆粒/cm3的濃度

·低維護

·跟其他制造商的DMA和納米顆粒計數器通用

·功能可靠

·圖形顯示測量結果

·減少您的運營費用

數據表

參數說明描述

接口USB,LAN, AUX, RS-232(CPC)

測量范圍(尺寸)8-1,200nm

尺寸通道zui多256個(128個/十進制)

測量范圍(數量濃度)0- 108顆粒/cm3

用戶界面觸摸屏，800x480分辨率，7”

數據存儲4GB

軟件PDAnalyze

調節范圍（電壓)1-10,000 V(上行和下行)

體積流量（鞘氣)2.5-14L/分鐘

安裝條件10-30°C

中和器XRC 049

氣溶膠體積流量0.5-3L/分鐘

應用領域

·過濾測試

·氣溶膠研究

·環境與氣候研究

·吸入實驗

·室內和工作場所測量