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渦流陣列探頭

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渦流陣列探頭探頭

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增宜檢測技術(shù)(上海)有限公司是一家專注于無損檢測設(shè)備,理化分析計量儀器,實驗室科研器材銷售及服務(wù)的一站式集成供應(yīng)商。公司代理許多上享譽*的先進(jìn)產(chǎn)品。

我們提供的工業(yè)產(chǎn)品包括超聲波檢測儀、渦流儀、激光間隙測量儀、X射線機(jī)、平板探測器、磁粉探傷機(jī)、著色滲透劑、聲發(fā)射檢測儀器、泄漏儀、內(nèi)窺鏡、顯微鏡、硬度計、合金光譜儀、金相分析儀、紅外熱像儀及其它實驗室試驗檢測設(shè)備。

我們的產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于造船、汽車、鐵路、航空、石化、冶金、風(fēng)電、核工業(yè)、軍工、特檢和高校科研等多個行業(yè)領(lǐng)域,并贏得了廣大用戶的良好口碑。

公司秉承“至信卓業(yè),客戶至上”的經(jīng)營宗旨,崇尚“專業(yè),高效,共贏”的服務(wù)理念,為廣大客戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品,優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。我們期待成為您長期且可信賴的合作伙伴。

主要代理如下公司產(chǎn)品:

奧林巴斯測厚儀/探傷儀/顯微鏡/內(nèi)窺鏡/光譜儀

 

Third Dimension英國三維激光間隙測量儀

 

ZETEC探傷儀

 

GE美國通用電氣測厚儀/探傷儀/顯微鏡/內(nèi)窺鏡/射線機(jī)

 

萬睿視平板探測器/管頭

 

Eddyfi & M2M探傷儀

 

美國磁通磁粉滲透

Eddyfi & M2M探傷儀

 

奧林巴斯超聲波相控陣OMNISCAN MX2,英國三維Third Dimension GapGun Pro激光間隙測量儀,美國萬睿視Varex射線數(shù)字平板探測器,奧林巴斯超聲波探傷儀,奧林巴斯渦流探傷儀,內(nèi)窺鏡,元素分析儀,美國磁粉滲透

供貨周期 現(xiàn)貨 應(yīng)用領(lǐng)域 化工

渦流陣列(ECA)技術(shù)提供以電子方式驅(qū)動和讀取多個并排放置在同一探頭中的渦流傳感器的能力。通過使用多路傳輸功能,可避免單個線圈之間的互感,使數(shù)據(jù)采集成為可能。

渦流陣列儀器


OmniScan MX ECA/ECT

這款儀器可以進(jìn)行渦流陣列檢測。其檢測配置支持32個傳感線圈(使用外置多路轉(zhuǎn)換器可支持64個線圈),其工作模式可為橋式或發(fā)送接收式。其工作頻率范圍為20 Hz到6 MHz,并提供可以在同一采集操作過程中使用多個頻率的選項。

OmniScan MX
經(jīng)過現(xiàn)場驗證的、可靠的儀器

OmniScan MX是一款已經(jīng)現(xiàn)場驗證、性能可靠的儀器,其機(jī)身結(jié)構(gòu)堅固耐用,可以在嚴(yán)酷、惡劣的檢測環(huán)境中正常工作;現(xiàn)在世界上正在使用的OmniScan MX儀器有成千上萬臺。這款儀器緊湊、輕巧,使用兩節(jié)鋰離子電池供電,在電池滿電量時,可以進(jìn)行長達(dá)6小時的手動或半自動檢測。

OmniScan MX儀器的8.4英寸顯示屏可以實時顯示高清彩色圖像,在大多數(shù)光線條件下,操作人員都可以查看缺陷及其細(xì)微情況。用戶可使用飛梭旋鈕和功能鍵在儀器簡潔、直觀的界面上輕松瀏覽,也可以將USB鼠標(biāo)連接到儀器,方便對檢測數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。

OmniScan MX

一個平臺、兩款模塊、三種技術(shù):靈活適用性更強(qiáng)

為了滿足更廣泛應(yīng)用的要求,兩款模塊都提供渦流檢測(ECT)、渦流陣列(ECA)以及粘接檢測(BT)C掃描技術(shù)。兩款模塊都與MXE(ECT/ECA)和MXB(BT C掃描)軟件兼容;要做到這點,只需在各種技術(shù)之間進(jìn)行簡單轉(zhuǎn)換,操作人員接受少許培訓(xùn)即可。



EC表面探頭ECA探頭粘接檢測C掃描
OmniScan MX模塊

常規(guī)ECT

渦流陣列

粘接檢測C掃描

ECT4模塊

不被支持

ECA4-32模塊


支持大多數(shù)Nortec探頭

支持32個機(jī)載通道;使用外置多路轉(zhuǎn)換器時,可支持64個通道

要求使用特殊適配器和掃查器

 

OmniScan MX Aero
ECA與ECT別無二致 
覆蓋范圍廣,掃查速度快,檢出概率高

渦流陣列 (ECA) 技術(shù)融合了多種傳統(tǒng)的橋式或反射式(驅(qū)動器-拾波器)探頭線圈,以便在一次掃查檢測中覆蓋更大的范圍。此外,每款ECA探頭型號都經(jīng)過精心設(shè)計,可在沿探頭長度方向上的目標(biāo)缺陷范圍內(nèi)保持很高的檢出率。用戶在使用OmniScan MX ECA探傷儀時,可以非常快的速度手動移動ECA探頭進(jìn)行檢測,并借助彩色圖像和歸檔功能,完成性能強(qiáng)大、效率很高的檢測。 

 

原理

單線圈:光柵掃查

陣列探頭:單行掃查

透過薄涂層進(jìn)行檢測

渦流檢測(ECT)技術(shù)基于以下磁耦合工作原理:接近被測工件(鐵磁性或非鐵磁性的導(dǎo)電材料)的探頭傳感器(線圈)在被測工件中產(chǎn)生渦流,并在儀器的阻抗圖中顯示信號。使用渦流技術(shù)時,只要探頭到金屬的距離保持在合理的近距離范圍內(nèi),一般為0.5毫米到2.0毫米,就可以透過薄涂層(如:漆層)探測到材料中的缺陷。

渦流陣列(ECA)和渦流檢測(ECT)技術(shù)基于相同的基本原理(和物理學(xué)理論),因此也可以透過漆層進(jìn)行檢測,而且ECA技術(shù)還具有以下優(yōu)勢:覆蓋范圍大、掃查速度快、檢出概率高,及可進(jìn)行彩色成像。

 

透過薄涂層進(jìn)行檢測

渦流檢測使用的探頭為銅線繞制而成的線圈。線圈形狀可以變化,以更好地適用于特定的應(yīng)用。

  1. 交流電流在所選的頻率下通過線圈,在線圈周圍產(chǎn)生磁場。

  2. 當(dāng)線圈靠近導(dǎo)電材料時,材料中產(chǎn)生感應(yīng)渦流。

  3. 如果導(dǎo)電材料中的缺陷干擾了渦流的流通,則探頭的磁耦合效果會發(fā)生改變。通過測量線圈的阻抗變化,可以解讀缺陷信號。




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