新的D8 ADVANCE 衍射儀——真正的“智能化”衍射儀

D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì)，通過TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)，成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術(shù)，使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用（常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點(diǎn)光源應(yīng)用（織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū)）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史！
高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個(gè)衍射峰（注意不是一個(gè)衍射峰）的測量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過0.01度，布魯克AXS公司提供全球保證！
*進(jìn)的林克斯陣列探測器可以提高強(qiáng)度150倍，不僅答復(fù)提高設(shè)備的使用效率， 而且大幅提高了設(shè)備的探測靈敏度。

·元器件自動(dòng)識(shí)別及配置

·元器件互換無需調(diào)整，彈指間實(shí)現(xiàn)光路互換

·在一臺(tái)設(shè)備上集成多功能，而且輕松實(shí)現(xiàn)功能互換

·系統(tǒng)智能糾錯(cuò)

布魯克X射線衍射儀 D8 ADVANCE技術(shù)指標(biāo)：                                                
●Theta/theta 立式測角儀                              
●2Theta角度范圍：-110~168°
●角度精度：0.0001度                    
●Cr/Co/Cu靶，標(biāo)準(zhǔn)尺寸光管                  
●探測器：林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器                  
●儀器尺寸：1868x1300x1135mm                            
●重量：770kg                                              

布魯克X射線衍射儀 D8 ADVANCE主要功能：

●TWIN / TWIN 光路

布魯克的TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)極大地簡化了D8 ADVANCE的操作，使之適用于多種應(yīng)用和樣品類型。為便于用戶使用，該系統(tǒng)可在4種不同的光束幾何之間進(jìn)行自動(dòng)切換。該系統(tǒng)無需人工干預(yù)，即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進(jìn)行切換，且無需人工干預(yù)，是在環(huán)境下和非環(huán)境下對包括粉末、塊狀物體、纖維、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在內(nèi)的所有類型的樣品進(jìn)行分析的理想選擇。

●動(dòng)態(tài)光束優(yōu)化（DBO）

布魯克的DBO功能為X射線衍射的數(shù)據(jù)質(zhì)量樹立了全新的重要基準(zhǔn)。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)發(fā)散狹縫、防散射屏和可變探測器窗口的自動(dòng)同步功能，可為您提供數(shù)據(jù)質(zhì)量——尤其是在低2Θ角度時(shí)。除此之外，LYNXEYE全系列探測器均支持DBO：SSD160-2，LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。

●LYNXEYE XE-T

LYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產(chǎn)品。它是目前市面上一款可采集0D、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測器，適用于所有波長（從Cr到Ag），具有高計(jì)數(shù)率和好的角分辨率，是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇。

LYNXEYE XE-T具有優(yōu)于380 eV的能量分辨率，著實(shí)出色，是市面上性能好的的熒光過濾器探測器系統(tǒng)。借助它，您可在零強(qiáng)度損失下對由銅輻射激發(fā)的鐵熒光進(jìn)行100％過濾，而且無需金屬濾波片，因此數(shù)據(jù)也不會(huì)存在偽影，如殘余K?和吸收邊。同樣，也無需用到會(huì)消除強(qiáng)度的二級(jí)單色器。

布魯克提供的LYNXEYE XE-T探測器保證：交貨時(shí)保證無壞道！

應(yīng)用:
●物相定性分析
●結(jié)晶度及非晶相含量分析
●結(jié)構(gòu)精修及解析
●物相定量分析
●點(diǎn)陣參數(shù)精確測量
●無標(biāo)樣定量分析
●微觀應(yīng)變分析
●晶粒尺寸分析
●原位分析
●殘余應(yīng)力
●低角度介孔材料測量
●織構(gòu)及ODF分析
●薄膜掠入射
●薄膜反射率測量
●小角散射