X射線衍射儀( Ultima-III)樣品結構分析測試
參考價 | ¥ 65 |
訂貨量 | ≥1個 |
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 北京泰克來爾科技有限公司
- 品牌 Rigaku/理學
- 型號
- 產地 日本
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2021/8/6 11:55:20
- 訪問次數 684
產品標簽
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價格區間 | 面議 | 儀器種類 | 多晶衍射儀 |
---|---|---|---|
應用領域 | 化工,地礦,建材 |
利用X射線衍射儀( Ultima-III)進行樣品結構分析測試,
具體包括下列內容
1. 粉末樣品的物相定性與定量分析
2. 計算結晶化度、晶粒大小
3. 確定晶系、晶粒大小與畸變
4. Rietveld結構分析
5. 薄膜樣品分析,包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度,電荷密度
6. In-Plane裝置可以同時測量樣品垂直方向的結構及樣品深度方向的結構
7. 小角散射與納米材料粒徑分布
8. 微區樣品的分析
儀器參數如下:
X射線發生器:3kW 或9kw
靶材:封閉靶Cu,Cr,Fe,Co,,Ni,Mo,Ag,Au及其它任選
側角儀部分
測角儀半徑:300mm
X射線發生器:3kW 或9kw
靶材:封閉靶Cu,Cr,Fe,Co,,Ni,Mo,Ag,Au及其它任選
側角儀部分
測角儀半徑:300mm