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化工儀器網>產品展廳>物理特性分析儀器>測厚儀>涂層測厚儀> LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀

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LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀

具體成交價以合同協議為準

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聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


京海興樂科技(北京)有限公司

公司主要提供UT(超聲)MT(磁粉)PT(滲透)RT(射線)等設備及周邊耗材

主要經營品牌:美國奧林巴斯OLYMPUS(原泛美)、美國GE(原德國KK)、美國磁通Magnaflux

超聲電子、SIUI、瑞典蘭寶、美國SP公司、美國達高特、德國MR、英國易高、新美達、船牌、等等

提供的無損檢測儀器設備主要有超聲波探傷儀、相控陣探傷儀、超聲波測厚儀、TOFD探傷儀、超聲波探頭、相控陣探頭、渦流探傷儀、渦流探頭、渦流陣列探傷儀、磁粉探傷儀、磁粉、紫外線燈、照度計、工業掃查器、航空航天檢測系統、著色滲透劑、熒光滲透線、工業內窺鏡、工業顯微鏡、光譜(合金)分析儀、工業X光機、工業CT、CR、DR、工業洗片機、管材的無損檢測解決方案、復合材料超聲波自動化檢測、超聲波板材/管材檢測系統、大型壓力容器超聲波檢測系統、汽車點焊超聲波檢測設備,以及其它各類型分析檢測儀器。

長期以來,依托高素質的技術人員和銷售隊伍,本著誠信守法,客戶*的經營原則,以良好的信譽、豐富的經驗、周到的服務,為客戶提供了*的檢測設備及技術解決方案,贏得了國內外廣大用戶的信賴和好評。我們提供的設備、系統及方案應用于中國的各種*工業領域,

用戶行業包括航空航天,核能電力,船舶制造,海洋石油,石油化工,機械制造,鐵路交通,進口商檢,技術監督,高校及研究機構等。依托高素質的技術人員和銷售隊伍,本著守法,誠信,客戶*的經營原則,公司以良好的信譽,周到的售前和售后服務,贏得了廣大用戶的信賴和好評。

超聲波探傷儀,磁粉探傷儀,黑光燈,探傷劑,膠片,硬度計,測厚儀,輻射儀,照度計等等

產地類別 進口 價格區間 面議
應用領域 交通,冶金,航天,汽車

LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀   

涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042具有精準的測量技術和簡單的操作方法,是萬能的涂層測厚儀。通過解鎖代碼,可以使儀器在現場迅速的升級。    

可定制帶系統的涂層測厚
涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042 利用磁感應法(DIN EN ISO 2178)測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測量非鐵磁材料上覆蓋的非導電層厚度。

儀器將一種把測厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統相結合,同時提供10種可供任意選擇的語言,以滿足客戶的各種需求。

涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042是一種經濟的產品,電池壽命長,可以連續工作100小時以上。儀器記錄工作時間和測量數量,因此一些重要的參數可以被保存。

彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內,可以保護儀器在工業環境中意外滑落不受損害。


隨機附送儀器箱
(儀器的舉例)
  特點概述

大圖解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景燈
校準選項
 出廠時已校準,立即可用
 在未知涂層上校準*
 零校準*
 在無涂層的基體上一點和多點校準*
 在有涂層的基體上校準*

校準數據可以別單獨存儲在獨立的校準檔案中,也可以隨時調出

可選擇的顯示模式,以最佳形式去完成測量任務*
輸入和極限監視*
Windows下有簡單的存儲讀數檔案管理*
可用的電腦軟件STATWIN 2002 和EasyExport
統計*

可統計評估999個讀數
最小值、最大值、測量個數、標準偏差和極限監視
局部厚度和平局膜層厚度(DIN EN ISO 2808)
在線統計,所有統計值概括
LEPTOSKOP 2042 帶有45°微型探頭
* 取決于配置級別
  3種配置級別以更好的完成測量人任務
LEPTOSKOP 2042 有3種配置級別

基本型 – 證明質量的基本特征
高級型 - 附加統計評估
專業型 - 統計評估和數據存儲


如果針對新的測量要求,而需要儀器增加新的功能,可以在任何時候把儀器升級為高級型和/或專業型。升級只需在現場輸入解鎖代碼,“統計”和/或“統計& 數據存儲”,便可完成;而不需要把儀器反廠或重新購買新機器。

這里有操作指南和制定模塊的參考說明。




通過解鎖代碼可以很方便的升級
(證書舉例)
  舉例:儀器上的用戶界面圖像
選擇菜單項目(例如:語言清單)

A語言清單
B卷軸條作為導航輔助



清晰的統計讀數值和當前測量值

C基體
D當前測量值
E“可以測量”提示
F單位
G最小值和最大值
H標準偏離
I平均值
K測量值數量



電腦讀數也被存儲在目錄和文件中

L顯示讀數的文件符號
M可自由選擇的文件名
N卷軸條作為導航輔助



  多樣的探頭
多樣的外部探頭使LEPTOSKOP 2042在困難的條件下,更容易地測量復雜幾何圖形上的特殊涂層厚度。涂層厚度是20mm 也是可以的。根據需求,我們也可以訂做特殊探頭。


探頭類型測量方法測量范圍訂貨號

標準探頭Fe 0?br> 用于在寬闊的、容易測量的地方Fe0 - 3000 祄2442.100
標準探頭 NFe 0?/font>NFe0 - 1000 祄2442.130
標準探頭 NFe S 0?/font>NFe0 - 3750 祄2442.140
標準探頭 Fe S 0?br>用于測量表面有寬闊的涂層厚度Fe0.5 - 20 mm2442.120
標準探頭 Fe 90?br>用于測量難接近的部位,例如:管子的內部Fe0 - 3000 祄2442.110
雙晶探頭用于測量表面有寬闊的涂層例如:管子的內部涂層.Fe0.5 - 12.5 mm2442.200
微型探頭0?用于測量小尺寸和難接近的部位例如:鉆孔的底部FeNFe0 - 500 祄2442.300
2442.310
微型探頭 45?用于測量小尺寸和難接近的部位FeNFe0 - 500 祄2442.320
2442.330
微型探頭 90?用于測量小尺寸和難接近的部位例如:管子的內壁和鉆孔FeNFe0 - 500 祄2442.340
2442.350
注:點擊單獨的探頭圖片,可以得到更多詳細信息





  技術資料
數據傳輸接口RS232 或 USB
電源:電池、充電電池、USB或外接電源
測量范圍: 0 - 20000 um (取決于探頭)
測量速度: 每秒測量個數值
存儲: 最多 9999 個數值,140個文件
誤差: 
涂層厚度 < 100 祄: 1 % 的數值 +/- 1 祄 (校準后) 
涂層厚度 > 100 祄: 1..3 % 的數值 +/- 1 祄 
涂層厚度 > 1000 祄: 3..5 % 的數值 +/- 10 祄 
涂層厚度 > 10000 祄: 5 % 的數值 +/- 100 祄

  附件
試塊和膜片
探頭定位裝置 (適用于微型探頭)
定位輔助裝置 (適用于微型探頭)
電腦軟件 STATWIN 2002 用于數據傳輸和對整個目錄結構的便捷管理
電腦軟件 EasyExport 用于把單獨的杜說或全部文件傳輸到Windows 程序里




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