小推車光譜分析儀/移動光電直讀光譜儀
- 公司名稱 上海鼎振儀器設備有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地 德國
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2024/3/7 13:38:14
- 訪問次數(shù) 1329
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激發(fā)方式 | 火花 | 價格區(qū)間 | 40萬-50萬 |
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檢測器類 | 雙檢測器(PMT+CCD) | 儀器種類 | 臺式 |
應用領域 | 建材,冶金,航天,汽車 |
Belec Compact Port HLC是便攜式混合光譜儀,碳分析結合靈活性和新的6GSO系統(tǒng)。
之前僅有大型實驗室光譜儀能做到,現(xiàn)在便攜式光譜儀也可以真正的實現(xiàn)。
貝萊克工程師重新設計了*的方案混合- 內置雙光譜室的新Belec Compact Port HLC
精度:通過使用新的數(shù)字探測器(CCD),覆蓋整個光譜范圍,并且因而提供一個可以選擇的無損結果曲線,再加上高性能的光電倍增管,可選擇碳等元素,保證低的檢測限和無法實現(xiàn)的性能。
Belec Compact Port HLC — 產品功能
•新的6GSO系統(tǒng)(第6代光譜儀系統(tǒng))帶來的高性能
•新、先進的探測器,為光譜應用開發(fā)
•易于操作
•可移動手推車
•便于運輸
•用戶易懂的Belec Win 21軟件
•氬氣探頭分析C,P&S
•雙相鋼中的氮分析,可選
•使用空氣火花探頭快速混料分選
•C 下限可達 ≤ 0.003%
•可連接測量臺
•適用于幾乎所有樣品形狀和尺寸的適配器
Belec Compact Port HLC — 產品應用
Belec Compact Port HLC光譜儀提供了各種應用的可能性。 無論是用于生產區(qū)域的測量,建筑工地管道或廢料場 - 從一個應用區(qū)域移動到另一個應用區(qū)域,對于具有恒溫光譜室的儀器來說都是沒有問題的。 此外,設備的運輸和操作只需要一個人。
Belec Compact Port HLC— 技術數(shù)據(jù)
光學
•使用新的6GSO系統(tǒng)(第6代光譜儀光學系統(tǒng))帕刑-龍格雙光譜室裝置
•羅蘭圓直徑300毫米
•可用波長145-410 nm
•光柵,3600刻線/ mm
·色散率0.9nm / mm(1次)
•耐沖擊
•溫度穩(wěn)定的探測器,帶有波長入射狹縫(美國許可)
•高速光電倍增管,用于碳分析和測定高和低合金鋼
•集成噪聲補償
火花探頭
•氬氣流火花探頭,用于精確分析,包括C,P和S.N可選
•氬氣流量為待機時0.1 l / min,分析時為2.5 l / min
•電纜插座上安裝氬氣控制器
•空氣探頭用于快速混料分選
•各種探頭可配合線材、管材和小零件適配器使用
•探頭的塑料外殼重量輕而且可耐沖擊及振動
•啟動和清除的按鈕位置可方便手持操作
•混料鑒別信號:可目視“重復”和“拒絕”,直到確認按鈕被按下才可以啟動開始按鈕
•多路石英光纖,標準長度3m至8m,可選
•低損耗鎢電極
•空氣探頭用銀電極
•探頭連接器系統(tǒng)
•適用于不同樣品類型的適配器,如線材,管材或小零件
•可按用戶需求定制適配器
光源
•火花發(fā)生器的大頻率400Hz
•單極放電
•通過軟件控制預火花參數(shù)和集成數(shù)據(jù)參數(shù)
•通過軟件控制點火頻率程序
•通過軟件專門選擇放電參數(shù)
•空氣探頭的電弧源,可選
•點火電壓20 kV
電子器件
•溫度穩(wěn)定,精確到0.1°C
•每個探測器獨立的的AD轉換器板,安裝在多通道板上,并通過高速USB端口耦合
•集成噪聲抑制
•綜合背景補償
•無限數(shù)量的測量信道,可配置多個基體
尺寸
•寬度16.5英寸(420毫米)
•高度7.9英寸(200毫米)
•深度19.3英寸(490毫米)
重量
•分析儀器37.5磅 (17,00公斤)
•氬氣探頭2.9磅 (1,30 kg)
•氬氣UV探頭3.9磅(1.75公斤)
•空氣探頭1.8磅 (0,80公斤)
* 手持重量
電源
•230V / 50Hz或110V / 60Hz
•待機模式下為100W
•600W分析期間
計算機硬件
•系統(tǒng)集成工業(yè)計算機系統(tǒng)
•Intel®Atom™處理器N270(1.60 GHz)
•1 GB RAM(*大2 GB)
•2.5“硬盤>60 GB
•10.4“TFT彩色顯示屏
• 觸摸屏
•防水防塵的開合式計算器集成鍵盤
•3個USB 2.0端口
•以太網接口
WIN 21分析和質量控制計劃
軟件
•任意操作系統(tǒng),例如Windows 7
•遠程服務系統(tǒng)
•在每次測量時顯示分析值
•根據(jù)客戶要求提供多種分析程序
•每個程序有獨立分析參數(shù)
•自動程序查找(APF)
•分析計算:背景修正,曲線位置校正,加法和乘法元素間校正
•標準型自動校正
•容易同時重校正幾個程序
•使用MCDC(多通道漂移校正)延長校正周期
•與參考測量相比較,進行混料分選
•牌號分析是與預設的牌號元素數(shù)據(jù)進行比較
•類型校準和類型測量
•每個分析程序和元素在絕對和相對含量的公差,可單獨調整
•可選測量結果的平均值和標準偏差
•超過校準曲線時的警告信號
•自動提示定期重新校準
•自動顯示牌號和相應的元素范圍
•合金牌號數(shù)據(jù)庫,可存儲達100.000或以上牌號(僅限計算機存儲容量)
•可調節(jié)顯示器上的文本大小,以獲得佳的清晰度
•自動存儲功能
•報告存儲功能,供以后分析,打印和歸檔
•以圖形表示多種統(tǒng)計功能