一、系統介紹

     FlyTOF飛行時間法遷移率測量系統是東譜科技HiTran瞬態綜合光電特性測量平臺中的重要成員。該系統利用飛行時間法(time-of-flight, TOF)測量半導體材料的遷移率以及相關的光電特性，廣泛適用于各類半導體材料，如有機半導體、金屬-有機框架（metal-organic framework, MOF）、共價有機框架（covalent organic framework, COF）、鈣鈦礦材料等。FlyTOF系統是一款高度集成化的光電測試系統，配備便捷的上位機控制和數據測量軟件，可助力客戶進行快速、準確的測量。

二、產品特點

• 測試過程由軟件控制，UI界面友好，操作便捷；  

• 帶樣品倉，方便更換樣品和電學互聯；

• 帶位移功能，方便對同一基片上的不同器件進行測試；

• 所有光路均置于封閉暗箱內，無外界光源影響；

• 光路進行了優化設置，一般不需要額外調整光路；

• 可根據需要集成偏置光或多光束激發；

• 可靈活耦合不同類型激光器進行測試；

• 可集成其他定制功能。

三、系統典型參數表

1. 可選激發光源：OPO激光器，氮氣激光器，半導體激光器

2. ^*數據采集模塊： 1 GS/s - 10 GS/s sampling

3. ^*偏壓電源

4. ......

        產品或參數可根據客戶需求靈活配置。

 FlyTOF飛行時間法遷移率測量系統開放測試，歡迎各位新老客戶咨詢并測試樣品！