LiSpec-UVIR400 紫外可見近紅外光譜儀
- 公司名稱 萊森光學(深圳)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 LiSpec-UVIR400
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2021/2/1 14:54:28
- 訪問次數 235
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應用領域 | 電子/電池 |
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LiSpec-UVIR400紫外可見紅外光譜儀是萊森光學(LiSen Optics)一款具有革命性寬光譜微型光譜儀,采用了進口核心光譜模塊,控制電路采用*微處理技術,實現雙通道同步測量技術,真正意義上實現了200-2500nm全光譜測量,200-1000nm采用了2048像素面陣BT-CCD探測器,紫外可見量子效率高,900-2500nm采用了大靶面致冷或非致冷型256像元InGaAs 探測器,動態范圍大、靈敏度高,同時采用*紅外熱像素漂移校準,保證光譜在紅外波段受外界熱環境影響小,測試數據更穩定性。
典型應用領域
- 反射、透射、吸光度測量
- 光源光譜波長分析、光纖傳感研究
- 太陽輻射測量、光源輻射特性分、紫外老化試驗
- 材料物理特性研究(R/T)、分子動態學分析、等離子體光譜診斷
LiSpec-UVIR400系列紫外可見紅外光譜儀可根據用戶應用需求配置萊森光學不同的光學附件,透反射測量需要配置萊森光學的紫外增強鹵燈光源、光纖、準直鏡頭、透射/反射積分球,對于輻射測量需要配置積分球或余弦輻射探頭(光譜儀帶積分球或余弦輻射探頭輻射標定溯源到NIM)。
透過率光譜圖
主要技術指標
型 號 | LiSpec-UVIR400-1700 | LiSpec-UVIR400-2500 |
波長范圍 | 200-1700 nm | 200-2500 nm |
雜散光 | <0.5% | <0.5% |
光譜波長采用間隔 | 0.6nm@200-1100 3nm@900-1700nm | 0.6nm@200-1000 6nm@1000-2500nm |
光譜波長精度 | ±0.5nm | ±0.5nm |
信噪比 | 550:1/15000:1 | 550:1/10000:1 |
AD轉換 | 16位 | 16位 |
板卡采樣速率 | 0.13ms/scan | 1.1ms/USB3 |
短積分曝光時間 | 2us | 10us |
探測器 | 2048像素BT-CCD/256像素InGaAs TE-COOL | 2048像素BT-CCD/256像素InGaAs TE-COOL |
探測器像素尺寸 | 50umx500um | 50umx250um |
通信接口 | USB3.0高速接口; 5Gbps/千兆以太網接口; 1Gbps | USB3.0高速接口; 5Gbps/千兆以太網接口; 1Gbps |
工作溫度 | 5-55℃ | 5-55℃ |
外型尺寸/重量 | 131(長)x 233(寬)x 101(高)mm/6Kg | 131(長)x 233(寬)x 101(高)mm/6Kg |