一、華測高溫四探針測試儀器技術指標

溫度范圍：室溫-1200℃，（反射爐加溫）配水冷機）；

控溫精度：±0.5℃；

測量精度：±0.25℃；

升溫斜率：800℃/min

降溫斜率：1-200℃/min（可自調整）；

測量精度：0.5%；

樣品規格：直徑：20mm以內；厚度：5mm以內；

電極材料：鉑金；

測量方式：2線-4線測量方式；

供電：220V±10%，50Hz；

工作環境：0℃-55℃；

存儲條件：-40℃-70℃；

尺寸：750mmX660mmX360mm；

重量：25kg

二、華測高溫四探針測試儀器產品優勢

1.華測公司為針對新材料電檢測儀器全系列廠家，試驗效率高。

2.可實現高溫下的勻速、階梯、降溫下的全溫度范圍的測試。效果好，且可有效避免材料磁化

3.可實現小于±0.5℃溫度測量誤差（限反射爐），精度控制在±0.25℃以內。

三、產品應用

多晶硅材料

石墨烯材料

石墨功能材料

半導體材料

導電功能薄膜材料

鍺類功能材料

導電玻璃材料

柔性透明導電薄膜

其它導電材料等

四、產品特點

快速加熱與冷卻方式

較高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許較高速加熱到高溫。同時爐體可配置水冷系統，增設氣體冷卻裝置，可實現快速冷卻。

過紅外鍍金聚焦爐和溫度控制器的組合使用，可以控制樣品的溫度（遠比普通加溫方式）。

不同環境下的加熱與冷卻加熱/冷卻

可用真空、氣氛環境、低溫，操作簡單，使用石英玻璃制成。紅外線可傳送到加熱/冷卻室。

高溫四探針測試儀器

高溫四探針測試儀器