SE-VM是一款高精度快速測量光譜橢偏儀。可實現科研/企業級高精度快速光譜橢偏測量，支持多角度，微光斑，可視化調平系統等高兼容性靈活配置，多功能模塊定制化設計。

一、概述

      SE-VM 是一款超高精度快速測量光譜儀，其采用行業的橢偏創新技術，具備 1 雙旋轉補償器同步控制技術，2 透明基底消背反技術 等技術。快速實現光學參數薄膜和納米結構的表征分析，適用于薄膜材料的快速測量表征。支持多角度，微光斑，可視化調平系統等高兼容性靈活配置，多功能模塊定制化設計。

1.高精度橢偏測量解決方案；

2.超高精度、快速無損測量；

3. 支持多角度、微光斑、可視化調平系統功能模塊靈活定制；

4.  豐富的數據庫和幾何結構模型庫，保證強大數據分析能力。

二、光譜橢偏儀產品特點

      1.采用高性能進口復合光源，光譜覆蓋可見到近紅外范圍 (380-1000nm)，可支持擴展紫外到近紅外范圍 (193-2500nm)

2.  高精度旋轉補償器調制、PCRSA配置，實現Psi/Delta光譜數據高速采集；

3. 支持系列配置靈活，可根據不同應用場景支持多功能模塊化定制；

4. 數百種材料數據庫、多種算法模型庫，涵蓋了目前絕大部分的光電材料；

三、產品應用

       廣泛應用于鍍膜工藝控制、tooling校正等測量應用,實現光學薄膜、納米結構的光學常數和幾何特征尺寸快速的表征分析。