Fischer臺式熒光測厚儀/光譜儀

Fischer臺式熒光測厚儀/光譜儀

 FISCHERSCOPE® X-RAY XAN系列配置多樣，可以滿足非常廣泛的應用。它在快速分析和用戶友好操作方面具備特殊的優勢，如用于貴金屬和金合金的分析。也可以用于電子和線路板行業超薄鍍層分析。

應用實例
配備不同類型探測器的儀器都可以用來分析金合金。例如，配備了便宜的比例接收器探測器的XAN110，是分析包含幾個元素的簡單金合金的理想設備，例如分析含Au、Ag和Cu的黃色金合金。但是，如果合金中很多元素要測量或存在光譜重疊情況，那么配備半導體探測器的儀器，如XAN120，應該更加適合。由于具備非常好的分辨率，它也可以用來區分例如在牙合金中非常關鍵的金和鉑以及融合的貴金屬合金。
對于實驗室和測試機構而言，XAN150配備了硅漂移接收器（SDD），六種濾片和四種不同的準直器，可以滿足多種多樣的應用。這款儀器Au的重復精度可達0.5‰以下，準確性可以灰吹法相媲美。

典型應用領域

珠寶和手表行業金和貴金屬分析

測量幾個納米的超薄鍍層，如印刷線路板和電

子元件上的Au和Pd。

痕量分析（如電子元件(RoHS)或工具中的有害

物質）

用XAN 150分析諸如Al，Si，P等輕元素

實驗室，測試機構和大學里一般性的材料分析

和鍍層厚度測量