雙折射測量儀PA-Micro
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- 公司名稱 北京歐屹科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地 日本
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2025/1/24 11:22:45
- 訪問次數 5095
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| 產地類別 | 進口 | 產品種類 | 臺式 |
|---|---|---|---|
| 價格區間 | 15萬-25萬 | 數顯功能 | 有 |
| 溫控功能 | 有 | 應用領域 | 建材/家具,電子/電池,道路/軌道/船舶,航空航天,汽車及零部件 |
PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術的光子晶體偏光陣列片，*的雙折射算法設計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業內，特別是工業界雙折射測量/應力測量的選擇。
雙折射測量儀PA-Micro主要特點：
操作簡單，測量速度可以快到3秒。
視野范圍內可一次測量，測量范圍廣。
更直觀的全面讀取數據，無遺漏數據點。
具有多種分析功能和測量結果的比較。
維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。
高達2056x2464像素的偏振相機
雙折射測量儀PA-Micro應用領域：
通信光纖
晶體
醫學細胞
技術參數：
項次 | 項目 | 具體參數 |
1 | 輸出項目 | 相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應力換算（選配）【MPa】 |
2 | 測量波長 | 520nm |
3 | 雙折射測量范圍 | 0-130nm |
4 | 測量小分辨率 | 0.001nm |
5 | 測量重復精度 | <1nm（西格瑪） |
6 | 視野尺寸 | 142x170um到3.5x4.2mm |
7 | 選配鏡頭視野 | 無 |
8 | 選配功能 | 實時解析軟件，鏡片解析軟件，數據處理軟件，實現外部控制 |
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