濕熱試驗箱,溫度循環試驗箱,冷熱循環試驗箱,溫度沖擊試驗箱,快速溫度變化試驗機,防爆型高低溫試驗箱,溫度濕度低氣壓試驗箱,步入式環境試驗箱,萬能材料拉力試驗機,電動式高頻振動試驗臺。
產地類別 | 國產 | 價格區間 | 20萬-50萬 |
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應用領域 | 電子/電池,電氣,綜合 |
溫度循環試驗箱TCT test概述
1.TCT test是*IC芯片封裝、半導體元器件、集成電路、PCB板做可靠性測試與質量鑒定。主要通過-50℃~+150℃溫度上下限進行高低溫循環試測試、冷熱循環測試、溫度循環測試、高低溫交變測試、高低溫恒定測試、高低溫操作測試、高低溫儲存測試,每次溫度停留時間各為10分鐘,轉換溫度的過度時間為15分鐘,溫度循環次數為250次。主要測試線接合強度、晶粒強度、封裝方面的傷害,試驗目的是為了查看封裝內部不同物層之間熱膨脹系數(CTE)有可能差異過大而對產品引起的不同物層間界面的脫離,膠體和晶粒的破裂。
2.控制系統優勢:中英文菜單式人機對話操作方式,有開機自檢功能、溫度線性校正、自動停機、系統預約定時啟動功能;實現工業自動化,帶數據交互功能,能與客戶主機鏈接實現遠程監控,了解設備運行狀態,可以通過任何移動終端監控。
溫度循環試驗箱TCT test性能指標
1.溫度范圍:-40℃~+150℃;-50℃~+150℃;-60℃~+150℃;-70℃~+150℃。(高溫可定制:+250℃)
2.重點測試溫度范圍:-40℃~+85℃;-40℃~+120℃;-50℃~+150℃、-65℃~+150℃。(可根據試驗要求選擇溫度范圍)
3.試驗測試方式:高低溫循環試驗、冷熱循環試驗、高低溫恒定試驗、高低溫交變試驗、高低溫儲存試驗、高低溫操作試驗。
4.溫度穩定度:±0.3℃。
5.溫度均勻度:±1.5℃。
6.升溫速率:3℃~4℃/min平均值。(可定制溫變速率為:5℃/min;10℃/min;15℃/min;20℃/min;25℃/min,線性與非線性溫變。)
7.降溫速率:0.7℃~1℃/min平均值。(可定制溫變速率為:5℃/min;10℃/min;15℃/min;20℃/min;25℃/min,線性與非線性溫變。)
8.制冷系統:*壓縮機及制冷配件模塊化機組設計,方便日常維護與保養。
9.制冷方式:機械壓縮單級制冷或二元復疊制冷(風冷或水冷)。
10.加熱系統:進口SUS304#不銹鋼鰭片式耐熱、耐寒加熱管,加熱空氣式控溫。
11.節能方式:冷端PID調節(即加熱不制冷,制冷不加熱),比平衡調溫方式節能30%。
12.標準配置:觀測窗一個;LED視窗燈一支;保險管2支;物料架2套。
13.噪音處理:整機運行時≤60dB(*),滿足100萬級無塵車間制備工藝需求。
14.前端空氣經干燥過濾器處理,產品測試區及附近無明顯結露現象。設備可以連續運轉不需進行除霜。
15.保護裝置:壓縮機過載、過流、超壓保護、漏電保護、內箱超溫保護、加熱管空焚保護。
16.電源:AC220V(三線制)±10% 或 AC380V(五線制)±5%。
17.溫度循環測試箱可供選擇的型號及規格如下,根據客戶需求非標定制。
型 號 內箱尺寸(mm) 外箱尺寸(mm)
ZK-GDW -80L W400×H500×D400 W1000×H1330×D850
ZK-GDW-120L W500×H600×D400 W1000×H1530×D850
ZK-GDW-150L W500×H600×D500 W1000×H1850×D950
ZK-GDW-225L W500×H750×D600 W1000×H1680×D1050
ZK-GDW-408L W600×H850×D800 W1100×H1780×D1250
ZK-GDW-800L W1000×H1000×D800 W1500×H1930×D1250
ZK-GDW-1000L W1000×H1000×D1000 W1500×H1930×D1450
溫度循環測試箱執行與滿足標準
1.JESD22-A101-D
2.EIAJED-4701-D122。
3.MIT-STD-883E Method 1010.7。
4.JESD22-A104-A。
5.EIAJED- 4701-B-131。