特點
切換檢測器波長時會產生小的信號差異,即使這樣UH4150也可實現高精度的測定。

日立高性能的棱鏡-光柵雙單色器系統可實現低雜散光和低偏振。

UH4150采用棱鏡-光柵（P-G）雙單色器的光學系統，秉承U-4100光學系統的特點。 棱鏡-光柵（P-G）系統與常見的光柵-光柵（G-G）系統相比,S和P偏振光強度沒有大的改變。即使對于低透過率和反射率的樣品，UH4150也可實現低噪音測定。

平行光束可實現反射光和散射光的精確測定。

可提供適合不同測定目的的多種檢測器。

采用全新人體工學設計。

改進樣品室門，提升操作性。為了便于更換樣品和附件的操作，采用了符合人體工學的設計。

兼容多種U-4100附件。

通用附件適用于兩種型號。U-4100型附件也可用在UH4150型^*4由于附件可拆卸，適合更多的測定類型。

比U-4100型更高的樣品通量。

在秉承U-4100型光學系統高性能的同時，UH4150提供更高通量的測定。之前型號的儀器在1 nm數據間隔下測定時，掃描速度必須是600 mm/min。UH4150型可在1,200 nm/min的掃描速度下以1 nm的間隔進行測定，顯著縮短測定時間。^*5   UH4150在約2分鐘內可從240 nm測定到2,600 nm。對需要在紫外-可見-近紅外波長范圍內測定的樣品，如太陽能反射材料，尤其有效。

應用范例

微小樣品透過率測定
微小樣品透過率測定附件可用于像微型玻璃和攝像鏡頭等樣品的透過率測定

漫反射率測定
可將樣品放在積分球后面（樣品側的入射角為0°）測定粉末等樣品的漫反射率。