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RETS series 半導(dǎo)體行業(yè)液晶層間隙量測設(shè)備
- 公司名稱 大塚電子（蘇州）有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大冢
- 型號 RETS series
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2020/6/11 16:36:30
- 訪問次數(shù) 610
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zeta電位?粒徑?分子量測量系統(tǒng)，晶圓在線測厚系統(tǒng)，線掃描膜厚儀，顯微分光膜厚儀，線掃描膜厚儀，分光干涉式晶圓膜厚儀，相位差膜?光學(xué)材料檢測設(shè)備，非接觸光學(xué)膜厚儀，小角激光散射儀，多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)，量子效率測量系統(tǒng)
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,電子,印刷包裝,電氣 |
半導(dǎo)體行業(yè)液晶層間隙量測設(shè)備 RETS series
半導(dǎo)體行業(yè)液晶層間隙量測設(shè)備 RETS series
對應(yīng)范圍廣，從反射型?透過型type的已封入液晶的cell到帶有彩色濾光片的空cell都可對應(yīng)
產(chǎn)品信息
特 點
• 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器
• 有可對應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板
• 安全對策和粒子對策，可對應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備
測量項目
• 封入cell gap
• twist角 *
• rubbing角 *
• pretilt角［TN,IPS,FFS,MVA］ *
• 空cell gap *
• 相位差（復(fù)折射相位差）的波長分散 *
• 光學(xué)軸 *
• 橢圓率/方位角 *
• 三次元折射率/Rth/β *
• 分光光譜/色度*
測量對象
• 液晶cell
- 透過、半透過型液晶cell（TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強感應(yīng)電）
- 反射型液晶cell（TFT、TN、IPS、VA）
• 光學(xué)材料
- 其他（相位差?橢圓?偏光膜、液晶材料）
仕 樣
型號 | RETS series |
|---|---|
樣品尺寸 | 20mm×20mm ～* |
cell gap測量范圍 | 0.1μm ～數(shù)10μm |
cell gap重復(fù)性 | ±0.005μm |
檢出器 | 多通道分光光度計 |
測量波長范圍 | 400nm ～ 800nm |
光學(xué)系 | 偏光光學(xué)系 |
測量口徑 | φ2, φ5, φ10 (mm) |
光軸傾斜機構(gòu) | -20 ～ 45°、-45 ～ 45°等 |
測量案例
相位差與液晶層間隙值
液晶面內(nèi)分布圖
采購中心
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