*代理商——岱美儀器技術(shù)服務（上海）有限公司

F50膜厚測量儀——自動厚度測繪系統(tǒng)

自動膜厚映射

Filmetrics F50系列產(chǎn)品可以每秒繪制兩個點的薄膜厚度。電動R-Theta載物臺可以接受標準和定制的卡盤，用于直徑大為450mm的樣品。（這是在我們的生產(chǎn)系統(tǒng)中執(zhí)行數(shù)百萬次測量的同一壽命階段！）

地圖圖案可以是極性，矩形或線性的，也可以創(chuàng)建自己的樣式，而對測量點的數(shù)量沒有限制。提供了數(shù)十種預定義的地圖圖案。F50膜厚映射系統(tǒng)連接到Windows®計算機的USB端口，可以在幾分鐘內(nèi)完成設置。

不同的F50儀器的主要區(qū)別在于厚度和波長范圍。標準F50是非常受歡迎的。通常，較短的波長（例如F50-UV）用于測量較薄的膜，而較長的波長則可以測量較厚，更粗糙和更不透明的膜。

F54 膜厚測量儀——自動厚度測繪系統(tǒng)

自動膜厚映射

借助F54*的光譜反射系統(tǒng)，可以快速輕松地繪制直徑大為450毫米的樣品的薄膜厚度。電動r-theta平臺自動移動到選定的測量點，并提供每秒2個點的速度測量。

從數(shù)十種預定義的極性，矩形或線性地圖圖案中選擇一種，或創(chuàng)建自己的不受限制的測量點數(shù)量。整個桌面系統(tǒng)只需幾分鐘即可完成設置，任何具有基本計算機技能的人都可以使用。

F54膜厚映射系統(tǒng)連接到Windows®計算機的USB端口，可以在幾分鐘內(nèi)完成設置。

不同儀器的主要區(qū)別在于厚度和波長范圍。通常，較短的波長（例如F54-UV）用于測量較薄的膜，而較長的波長則可以測量較厚，更粗糙和更不透明的膜。

F60系列膜厚測量儀——自動厚度測繪系統(tǒng)

用于生產(chǎn)環(huán)境的自動厚度映射

Filmetrics F60-t系列像我們的F50產(chǎn)品一樣繪制膜的厚度和折射率，但是它還包含許多專門針對生產(chǎn)環(huán)境的功能。其中包括自動找到缺口，自動機載基線，帶運動互鎖功能的封閉式測量臺以及帶有預裝軟件的工業(yè)計算機。

不同的F60-t儀器的主要區(qū)別在于厚度和波長范圍。通常，需要較短的波長（例如F60-t-UV）來測量較薄的薄膜，而較長的波長則可以測量較厚，更粗糙和更不透明的薄膜

岱美有限公司與Filmetrics從03年開始的合作關(guān)系，單是國內(nèi)16年間已賣出超過600臺不同型號儀器，在國內(nèi)有多個服務處均有工程師，保證能為客戶提供及時的服務。

經(jīng)濟實惠的薄膜厚度測量系統(tǒng)的銷售*，讓復雜測量變得簡單

產(chǎn)品簡介：

美國 Filmetrics 公司生產(chǎn)的薄膜厚度測量儀利用反射干涉的原理進行無損測量，可測量薄膜厚度及光學常數(shù)。測量精度達到埃級的分辯率，測量迅速，操作簡單，界面友好，是目前市場上jiju性價比的薄膜厚度測量設備。設備光譜測量范圍從近紅外到紫外線，波長范圍從200nm到1700nm可選。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半導體膜層都可以測量。其可測量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之間，測量精度高達1 埃，測量穩(wěn)定性高達 0.7 埃，測量時間只需一到二秒, 并有手動及自動機型可選。可應用領(lǐng)域包括：生物醫(yī)學（Biomedical）, 液晶顯示(Displays), 硬涂層(Hard coats), 金屬膜(Metal), 眼鏡涂層(Ophthalmic) , 聚對二甲笨(Parylene), 電路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半導體材料(Semiconductors) , 太陽光伏(Solar photovoltaics), 真空鍍層(Vacuum Coatings), 圈筒檢查(Web inspection applications)等。

應用：

通過Filmetrics膜厚測量儀新反射式光譜測量技術(shù),多達3-4層透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在數(shù)秒鐘測得。其應用廣泛，例如：

膜層實例：

幾乎任何光滑、半透明、低吸收的膜都能測。包括：

SiO2（二氧化硅）           SiNx（氮化硅）                    DLC（類金剛石碳）

Photoresist（光刻膠）     Polyer Layers（高分子聚合物層）      Polymide（聚酰亞胺）

Polysilicon（多晶硅）      Amorphous Silicon（非晶硅）

 基底實例：

對于厚度測量，大多數(shù)情況下所要求的只是一塊光滑、反射的基底。對于光學常數(shù)測量，需要一塊平整的鏡面反射基底；如果基底是透明的，基底背面需要進行處理使之不能反射。

包括：

Silicon（硅）         Glass（玻璃）               Aluminum（鋁）

Gas（砷化鎵）        Steel（鋼）                 Polycarbonate（聚碳酸脂）

Polymer Films（高分子聚合物膜）

產(chǎn)品應用，在可測樣品基底上有了*的飛躍：

●幾乎所有材料表面上的鍍膜都可以測量，即使是藥片，木材或紙張等粗糙的非透明基底。

●玻璃或塑料的板材、管道和容器。

●光學鏡頭和眼科鏡片。

服務：

免費樣機演示及測量

輕輕一按即可實現(xiàn)測量！

請聯(lián)系我們，專業(yè)的應用工程師將為你演示它是如此的方便！

優(yōu)勢：

*     提供在線診斷

*     配送獨立的軟件包

*     精通的歷史功能即程序數(shù)據(jù)可存儲、復制及策劃結(jié)果

*     免費軟件升級

極易操作、快速、準確、機身輕巧及價格便宜為其主要優(yōu)點，F(xiàn)ilmetrics提供以下型號以供選擇:

一、單點測量系統(tǒng)（從 1nm 到 13mm 單層及多層厚度測量）

二、F40 系列- 基于微米(顯微)級別光斑尺寸厚度測量

三、F50/F60系列- 表面的自動測繪

四、F30 系列- 在線厚度監(jiān)控儀器