Filmetrics - F30、F40 膜厚測量儀
參考價 | ¥ 19 |
訂貨量 | ≥1 件 |
- 公司名稱 岱美儀器技術(shù)服務(wù)(上海)有限公司
- 品牌 航天睿博
- 型號 Filmetrics - F30、F40
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2020/5/19 11:11:28
- 訪問次數(shù) 1092
聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,電子,航天,電氣 |
岱美有限公司與Filmetrics從03年開始的合作關(guān)系,單是國內(nèi)16年間已賣出超過600臺不同型號儀器,在國內(nèi)有多個服務(wù)處均有工程師,保證能為客戶提供及時的服務(wù)。
經(jīng)濟實惠的薄膜厚度測量系統(tǒng)的銷售*,讓復(fù)雜測量變得簡單
應(yīng)用:
通過Filmetrics膜厚測量儀新反射式光譜測量技術(shù),多達(dá)3-4層透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在數(shù)秒鐘測得。其應(yīng)用廣泛,例如:
半導(dǎo)體制造 | 液晶顯示器 | 生物醫(yī)療元件 | 微機電系統(tǒng) | 光學(xué)鍍膜 |
Photoresist 光刻膠 Oxides 氧化物 Nitrides 氮化物 SOI 絕緣體上硅 | Cell Gaps液晶間隙 Polyimide 聚酰亞胺保護(hù)膜 ITO 納米銦錫金屬氧化物 | Polymer/Parylene Layers 聚合物/聚對二甲苯涂層 Membrane/Balloon Wall Thickness 生物膜/氣泡球厚度 Drug-Coated Stent 藥物涂層支架 | Silicon Membranes 硅膜 AlN/ZnO Thin Film Filters 氮化鋁/氧化鋅薄膜濾鏡 | Hardness Coatings 硬鍍膜 Anti-reflection Coatings 增透鍍膜 Filters濾光 |
膜層實例:
幾乎任何光滑、半透明、低吸收的膜都能測。包括:
SiO2(二氧化硅) SiNx(氮化硅) DLC(類金剛石碳)
Photoresist(光刻膠) Polyer Layers(高分子聚合物層) Polymide(聚酰亞胺)
Polysilicon(多晶硅) Amorphous Silicon(非晶硅)
基底實例:
對于厚度測量,大多數(shù)情況下所要求的只是一塊光滑、反射的基底。對于光學(xué)常數(shù)測量,需要一塊平整的鏡面反射基底;如果基底是透明的,基底背面需要進(jìn)行處理使之不能反射。
包括:
Silicon(硅) Glass(玻璃) Aluminum(鋁)
Gas(砷化鎵) Steel(鋼) Polycarbonate(聚碳酸脂)
Polymer Films(高分子聚合物膜)
產(chǎn)品應(yīng)用,在可測樣品基底上有了*的飛躍:
●幾乎所有材料表面上的鍍膜都可以測量,即使是藥片,木材或紙張等粗糙的非透明基底。
●玻璃或塑料的板材、管道和容器。
●光學(xué)鏡頭和眼科鏡片。
服務(wù):
免費樣機演示及測量
輕輕一按即可實現(xiàn)測量!
請聯(lián)系我們,專業(yè)的應(yīng)用工程師將為你演示它是如此的方便!
優(yōu)勢:
* 提供在線診斷
* 配送獨立的軟件包
* 精通的歷史功能即程序數(shù)據(jù)可存儲、復(fù)制及策劃結(jié)果
* 免費軟件升級
極易操作、快速、準(zhǔn)確、機身輕巧及價格便宜為其主要優(yōu)點,F(xiàn)ilmetrics提供以下型號以供選擇:
一、單點測量系統(tǒng)(從 1nm 到 13mm 單層及多層厚度測量)
F20 | *銷量好的薄膜測量系統(tǒng),有各種不同附件和波長(由220nm紫外線區(qū) 至1700nm近紅外線區(qū))覆蓋范圍,為任意攜帶型,可以實現(xiàn)反射率、膜厚、n、k值測量。 |
F3-sX | 能測量半導(dǎo)體與介電層薄膜厚度到3毫米, 例如硅片 |
F10-ARc | 可測量鏡片和其他曲面的反射率,用于涂層厚度測量 |
F10-HC | 測量硬涂層和防霧層厚度和折射率,聚碳酸酯硬涂層在汽車等行業(yè)應(yīng)用普通 |
F3-CS | 提供微小視野及微小樣品測量,USB連接電腦即可使用,攜帶方便 |
F10-AR | 測量眼科鏡頭和其他彎曲表面的反射率。還可以提供測量硬涂層厚度和透射率的可選件 |
F10-RT | 可同時測量反射率和透射率,也可選配測量膜層厚度和折射率。普遍應(yīng)用于真空涂層領(lǐng)域 在F20實現(xiàn)反射率跟穿透率的同時測量,特殊光源設(shè)計特別適用于透明基底樣品的測量。 |
二、F40 系列- 基于微米(顯微)級別光斑尺寸厚度測量
F40 | 可以固定到您的顯微鏡上來測量小至 1um 光斑點的厚度和折射率 這型號安裝在任何顯微鏡外,可提供小到1um光點(100倍放大倍數(shù))來測量微小樣品。 |
三、F50/F60系列- 表面的自動測繪
F50 | 為我們的F20系列產(chǎn)品增添自動測繪能力,以每秒鐘 2 個點的快速測繪厚度和折射率 這型號配備全自動XY工作臺,由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可。通過快速掃瞄功能,可取得整片樣品厚度分布情況(mapping)。 |
F54 | 能以每秒測量兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度,樣品直徑可達(dá)450毫米 |
F60-t | 滿足生產(chǎn)環(huán)境的臺式測繪系統(tǒng),包括自動基準(zhǔn)確定、凹槽定位、全封閉測量平臺以及其它裝置 |
四、F30 系列- 在線厚度監(jiān)控儀器
F30 | 檢測金屬有機化學(xué)氣相沉積(MOCVD)、陰極濺鍍和其他沉積工藝中監(jiān)控反射率、厚度和沉積率 這型號可安裝在任何真空鍍膜機腔體外的窗口??蓪崟r監(jiān)控長晶速度、實時提供膜厚、n、k值。并可切定某一波長或固定測量時間間距。更可加裝至三個探頭,同時測量三個樣品,具紫外線區(qū)或標(biāo)準(zhǔn)波長可供選擇。 |
F32 | 實時監(jiān)控薄膜頂部和底部的反射率和沉積速率 |
上海分公司
地址: 上海市浦東金高路 2216 弄 35 號6 幢 306-308 室
電話: (021) 3861 3675,3861 3676卜先生
北京分公司
地址: 北京市豐臺區(qū)豐臺科技園汽車博物館東路1號院諾德中心二期號樓1102室
電話: (010) 6261 5731,6261 5735賈先生
岱美有限公司成立于1989年,是數(shù)據(jù)存儲,半導(dǎo)體,光學(xué),光伏和航空航天*制造商和創(chuàng)新研發(fā)機構(gòu)的*設(shè)備分銷商。在21世紀(jì)初期,Dymek已從我們在香港的總部擴展到亞洲,以滿足客戶的多樣化需求。在當(dāng)今化的市場中,我們的客戶有連接?xùn)|南亞各國的綜合供應(yīng)鏈已經(jīng)成為基本。我們我們的專業(yè)人員隨時準(zhǔn)備與他們會面。
我們總部設(shè)在香港,在中國(北京和上海,以及廣東東莞)擁有強大的業(yè)務(wù)。我們還在馬來西亞,新加坡,中國臺灣,菲律賓和泰國的東南亞設(shè)有分支機構(gòu)。我們所有的分支機構(gòu)都已建立數(shù)十年,我們的許多客戶對我們與他們建立的長達(dá)數(shù)十年的合作關(guān)系感到滿意。
我們的目標(biāo)是建立持久的關(guān)系,滿足東南亞快速增長企業(yè)的需求。對于我們的客戶,我們不僅提供設(shè)備,還提供建議和技術(shù)指導(dǎo),以及時了解我們不斷發(fā)展的行業(yè)的新發(fā)展。對于我們的供應(yīng)商,我們提供了深入的銷售網(wǎng)絡(luò)和數(shù)十年的東南亞復(fù)雜商業(yè)環(huán)境導(dǎo)航經(jīng)驗。我們將本地客戶與來自歐洲,美國,日本和韓國的*設(shè)備連接起來。
可以立即聯(lián)系我們,了解我們?nèi)绾闻c您合作,實現(xiàn)您組織的*財務(wù)目標(biāo)。
岱美有限公司與Filmetrics從03年開始的合作關(guān)系,單是國內(nèi)16年間已賣出超過600臺不同型號儀器,在國內(nèi)有多個服務(wù)處均有工程師,保證能為客戶提供及時的服務(wù)。
經(jīng)濟實惠的薄膜厚度測量系統(tǒng)的銷售*,讓復(fù)雜測量變得簡單
產(chǎn)品簡介:
美國 Filmetrics 公司生產(chǎn)的薄膜厚度測量儀利用反射干涉的原理進(jìn)行無損測量,可測量薄膜厚度及光學(xué)常數(shù)。測量精度達(dá)到埃級的分辯率,測量迅速,操作簡單,界面友好,是目前市場上jiju性價比的薄膜厚度測量設(shè)備。設(shè)備光譜測量范圍從近紅外到紫外線,波長范圍從200nm到1700nm可選。凡是光滑的,透明或半透明的和所有半導(dǎo)體膜層都可以測量。其可測量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之間,測量精度高達(dá)1 埃,測量穩(wěn)定性高達(dá) 0.7 埃,測量時間只需一到二秒, 并有手動及自動機型可選。可應(yīng)用領(lǐng)域包括:生物醫(yī)學(xué)(Biomedical), 液晶顯示(Displays), 硬涂層(Hard coats), 金屬膜(Metal), 眼鏡涂層(Ophthalmic) , 聚對二甲笨(Parylene), 電路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半導(dǎo)體材料(Semiconductors) , 太陽光伏(Solar photovoltaics), 真空鍍層(Vacuum Coatings), 圈筒檢查(Web inspection applications)等。
應(yīng)用:
通過Filmetrics膜厚測量儀新反射式光譜測量技術(shù),多達(dá)3-4層透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在數(shù)秒鐘測得。其應(yīng)用廣泛,例如:
半導(dǎo)體制造 | 液晶顯示器 | 生物醫(yī)療元件 | 微機電系統(tǒng) | 光學(xué)鍍膜 |
Photoresist 光刻膠 Oxides 氧化物 Nitrides 氮化物 SOI 絕緣體上硅 | Cell Gaps液晶間隙 Polyimide 聚酰亞胺保護(hù)膜 ITO 納米銦錫金屬氧化物 | Polymer/Parylene Layers 聚合物/聚對二甲苯涂層 Membrane/Balloon Wall Thickness 生物膜/氣泡球厚度 Drug-Coated Stent 藥物涂層支架 | Silicon Membranes 硅膜 AlN/ZnO Thin Film Filters 氮化鋁/氧化鋅薄膜濾鏡 | Hardness Coatings 硬鍍膜 Anti-reflection Coatings 增透鍍膜 Filters濾光 |
膜層實例:
幾乎任何光滑、半透明、低吸收的膜都能測。包括:
SiO2(二氧化硅) SiNx(氮化硅) DLC(類金剛石碳)
Photoresist(光刻膠) Polyer Layers(高分子聚合物層) Polymide(聚酰亞胺)
Polysilicon(多晶硅) Amorphous Silicon(非晶硅)
基底實例:
對于厚度測量,大多數(shù)情況下所要求的只是一塊光滑、反射的基底。對于光學(xué)常數(shù)測量,需要一塊平整的鏡面反射基底;如果基底是透明的,基底背面需要進(jìn)行處理使之不能反射。
包括:
Silicon(硅) Glass(玻璃) Aluminum(鋁)
Gas(砷化鎵) Steel(鋼) Polycarbonate(聚碳酸脂)
Polymer Films(高分子聚合物膜)
產(chǎn)品應(yīng)用,在可測樣品基底上有了*的飛躍:
●幾乎所有材料表面上的鍍膜都可以測量,即使是藥片,木材或紙張等粗糙的非透明基底。
●玻璃或塑料的板材、管道和容器。
●光學(xué)鏡頭和眼科鏡片。
服務(wù):
免費樣機演示及測量
輕輕一按即可實現(xiàn)測量!
請聯(lián)系我們,專業(yè)的應(yīng)用工程師將為你演示它是如此的方便!
優(yōu)勢:
* 提供在線診斷
* 配送獨立的軟件包
* 精通的歷史功能即程序數(shù)據(jù)可存儲、復(fù)制及策劃結(jié)果
* 免費軟件升級
極易操作、快速、準(zhǔn)確、機身輕巧及價格便宜為其主要優(yōu)點,F(xiàn)ilmetrics提供以下型號以供選擇:
一、單點測量系統(tǒng)(從 1nm 到 13mm 單層及多層厚度測量)
F20 | *銷量好的薄膜測量系統(tǒng),有各種不同附件和波長(由220nm紫外線區(qū) 至1700nm近紅外線區(qū))覆蓋范圍,為任意攜帶型,可以實現(xiàn)反射率、膜厚、n、k值測量。 |
F3-sX | 能測量半導(dǎo)體與介電層薄膜厚度到3毫米, 例如硅片 |
F10-ARc | 可測量鏡片和其他曲面的反射率,用于涂層厚度測量 |
F10-HC | 測量硬涂層和防霧層厚度和折射率,聚碳酸酯硬涂層在汽車等行業(yè)應(yīng)用普通 |
F3-CS | 提供微小視野及微小樣品測量,USB連接電腦即可使用,攜帶方便 |
F10-AR | 測量眼科鏡頭和其他彎曲表面的反射率。還可以提供測量硬涂層厚度和透射率的可選件 |
F10-RT | 可同時測量反射率和透射率,也可選配測量膜層厚度和折射率。普遍應(yīng)用于真空涂層領(lǐng)域 在F20實現(xiàn)反射率跟穿透率的同時測量,特殊光源設(shè)計特別適用于透明基底樣品的測量。 |
二、F40 系列- 基于微米(顯微)級別光斑尺寸厚度測量
F40 | 可以固定到您的顯微鏡上來測量小至 1um 光斑點的厚度和折射率 這型號安裝在任何顯微鏡外,可提供小到1um光點(100倍放大倍數(shù))來測量微小樣品。 |
三、F50/F60系列- 表面的自動測繪
F50 | 為我們的F20系列產(chǎn)品增添自動測繪能力,以每秒鐘 2 個點的快速測繪厚度和折射率 這型號配備全自動XY工作臺,由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可。通過快速掃瞄功能,可取得整片樣品厚度分布情況(mapping)。 |
F54 | 能以每秒測量兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度,樣品直徑可達(dá)450毫米 |
F60-t | 滿足生產(chǎn)環(huán)境的臺式測繪系統(tǒng),包括自動基準(zhǔn)確定、凹槽定位、全封閉測量平臺以及其它裝置 |
四、F30 系列- 在線厚度監(jiān)控儀器
F30 | 檢測金屬有機化學(xué)氣相沉積(MOCVD)、陰極濺鍍和其他沉積工藝中監(jiān)控反射率、厚度和沉積率 這型號可安裝在任何真空鍍膜機腔體外的窗口??蓪崟r監(jiān)控長晶速度、實時提供膜厚、n、k值。并可切定某一波長或固定測量時間間距。更可加裝至三個探頭,同時測量三個樣品,具紫外線區(qū)或標(biāo)準(zhǔn)波長可供選擇。 |
F32 | 實時監(jiān)控薄膜頂部和底部的反射率和沉積速率 |
上海分公司
地址: 上海市浦東金高路 2216 弄 35 號6 幢 306-308 室
電話: (021) 3861 3675,3861 3676卜先生
北京分公司
地址: 北京市豐臺區(qū)豐臺科技園汽車博物館東路1號院諾德中心二期號樓1102室
電話: (010) 6261 5731,6261 5735賈先生
岱美有限公司成立于1989年,是數(shù)據(jù)存儲,半導(dǎo)體,光學(xué),光伏和航空航天*制造商和創(chuàng)新研發(fā)機構(gòu)的*設(shè)備分銷商。在21世紀(jì)初期,Dymek已從我們在香港的總部擴展到亞洲,以滿足客戶的多樣化需求。在當(dāng)今化的市場中,我們的客戶有連接?xùn)|南亞各國的綜合供應(yīng)鏈已經(jīng)成為基本。我們我們的專業(yè)人員隨時準(zhǔn)備與他們會面。
我們總部設(shè)在香港,在中國(北京和上海,以及廣東東莞)擁有強大的業(yè)務(wù)。我們還在馬來西亞,新加坡,中國臺灣,菲律賓和泰國的東南亞設(shè)有分支機構(gòu)。我們所有的分支機構(gòu)都已建立數(shù)十年,我們的許多客戶對我們與他們建立的長達(dá)數(shù)十年的合作關(guān)系感到滿意。
我們的目標(biāo)是建立持久的關(guān)系,滿足東南亞快速增長企業(yè)的需求。對于我們的客戶,我們不僅提供設(shè)備,還提供建議和技術(shù)指導(dǎo),以及時了解我們不斷發(fā)展的行業(yè)的新發(fā)展。對于我們的供應(yīng)商,我們提供了深入的銷售網(wǎng)絡(luò)和數(shù)十年的東南亞復(fù)雜商業(yè)環(huán)境導(dǎo)航經(jīng)驗。我們將本地客戶與來自歐洲,美國,日本和韓國的*設(shè)備連接起來。
可以立即聯(lián)系我們,了解我們?nèi)绾闻c您合作,實現(xiàn)您組織的*財務(wù)目標(biāo)。