Filmetrics—F20 膜厚測量儀
參考價 | ¥ 18 |
訂貨量 | ≥1 |
- 公司名稱 岱美儀器技術服務(上海)有限公司
- 品牌
- 型號 Filmetrics—F20
- 產地 美國
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2020/5/19 11:11:33
- 訪問次數 1232
聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!
價格區間 | 20萬-50萬 | 應用領域 | 化工,能源,電子,航天,電氣 |
---|
岱美有限公司與Filmetrics從03年開始的合作關系,單是國內16年間已賣出超過600臺不同型號儀器,在國內有多個服務處均有工程師,保證能為客戶提供及時的服務。
經濟實惠的薄膜厚度測量系統的銷售*,讓復雜測量變得簡單
產品簡介:
美國 Filmetrics 公司生產的薄膜厚度測量儀利用反射干涉的原理進行無損測量,可測量薄膜厚度及光學常數。測量精度達到埃級的分辯率,測量迅速,操作簡單,界面友好,是目前市場上性價比的薄膜厚度測量設備。設備光譜測量范圍從近紅外到紫外線,波長范圍從200nm到1700nm可選。凡是光滑的,透明或半透明的和所有半導體膜層都可以測量。其可測量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之間,測量精度高達1 埃,測量穩定性高達 0.7 埃,測量時間只需一到二秒, 并有手動及自動機型可選。可應用領域包括:生物醫學(Biomedical), 液晶顯示(Displays), 硬涂層(Hard coats), 金屬膜(Metal), 眼鏡涂層(Ophthalmic) , 聚對二甲笨(Parylene), 電路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半導體材料(Semiconductors) , 太陽光伏(Solar photovoltaics), 真空鍍層(Vacuum Coatings), 圈筒檢查(Web inspection applications)等。
應用:
通過Filmetrics膜厚測量儀新反射式光譜測量技術,多達3-4層透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在數秒鐘測得。其應用廣泛,例如:
半導體制造 | 液晶顯示器 | 生物醫療元件 | 微機電系統 | 光學鍍膜 |
Photoresist 光刻膠 Oxides 氧化物 Nitrides 氮化物 SOI 絕緣體上硅 | Cell Gaps液晶間隙 Polyimide 聚酰亞胺保護膜 ITO 納米銦錫金屬氧化物 | Polymer/Parylene Layers 聚合物/聚對二甲苯涂層 Membrane/Balloon Wall Thickness 生物膜/氣泡球厚度 Drug-Coated Stent 藥物涂層支架 | Silicon Membranes 硅膜 AlN/ZnO Thin Film Filters 氮化鋁/氧化鋅薄膜濾鏡 | Hardness Coatings 硬鍍膜 Anti-reflection Coatings 增透鍍膜 Filters濾光 |
膜層實例:
幾乎任何光滑、半透明、低吸收的膜都能測。包括:
SiO2(二氧化硅) SiNx(氮化硅) DLC(類金剛石碳)
Photoresist(光刻膠) Polyer Layers(高分子聚合物層) Polymide(聚酰亞胺)
Polysilicon(多晶硅) Amorphous Silicon(非晶硅)
基底實例:
對于厚度測量,大多數情況下所要求的只是一塊光滑、反射的基底。對于光學常數測量,需要一塊平整的鏡面反射基底;如果基底是透明的,基底背面需要進行處理使之不能反射。
包括:
Silicon(硅) Glass(玻璃) Aluminum(鋁)
Gas(砷化鎵) Steel(鋼) Polycarbonate(聚碳酸脂)
Polymer Films(高分子聚合物膜)
產品應用,在可測樣品基底上有了*的飛躍:
●幾乎所有材料表面上的鍍膜都可以測量,即使是藥片,木材或紙張等粗糙的非透明基底。
●玻璃或塑料的板材、管道和容器。
●光學鏡頭和眼科鏡片。
服務:
免費樣機演示及測量
輕輕一按即可實現測量!
請聯系我們,專業的應用工程師將為你演示它是如此的方便!
優勢:
* 提供在線診斷
* 配送獨立的軟件包
* 精通的歷史功能即程序數據可存儲、復制及策劃結果
* 免費軟件升級
極易操作、快速、準確、機身輕巧及價格便宜為其主要優點,Filmetrics提供以下型號以供選擇:
一、單點測量系統(從 1nm 到 13mm 單層及多層厚度測量)
F20 | *銷量好的薄膜測量系統,有各種不同附件和波長(由220nm紫外線區 至1700nm近紅外線區)覆蓋范圍,為任意攜帶型,可以實現反射率、膜厚、n、k值測量。 |
F3-sX | 能測量半導體與介電層薄膜厚度到3毫米, 例如硅片 |
F10-ARc | 可測量鏡片和其他曲面的反射率,用于涂層厚度測量 |
F10-HC | 測量硬涂層和防霧層厚度和折射率,聚碳酸酯硬涂層在汽車等行業應用普通 |
F3-CS | 提供微小視野及微小樣品測量,USB連接電腦即可使用,攜帶方便 |
F10-AR | 測量眼科鏡頭和其他彎曲表面的反射率。還可以提供測量硬涂層厚度和透射率的可選件 |
F10-RT | 可同時測量反射率和透射率,也可選配測量膜層厚度和折射率。普遍應用于真空涂層領域 在F20實現反射率跟穿透率的同時測量,特殊光源設計特別適用于透明基底樣品的測量。 |
二、F40 系列- 基于微米(顯微)級別光斑尺寸厚度測量
F40 | 可以固定到您的顯微鏡上來測量小至 1um 光斑點的厚度和折射率 這型號安裝在任何顯微鏡外,可提供小到1um光點(100倍放大倍數)來測量微小樣品。 |
三、F50/F60系列- 表面的自動測繪
F50 | 為我們的F20系列產品增添自動測繪能力,以每秒鐘 2 個點的快速測繪厚度和折射率 這型號配備全自動XY工作臺,由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可。通過快速掃瞄功能,可取得整片樣品厚度分布情況(mapping)。 |
F54 | 能以每秒測量兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度,樣品直徑可達450毫米 |
F60-t | 滿足生產環境的臺式測繪系統,包括自動基準確定、凹槽定位、全封閉測量平臺以及其它裝置 |
四、F30 系列- 在線厚度監控儀器
F30 | 檢測金屬有機化學氣相沉積(MOCVD)、陰極濺鍍和其他沉積工藝中監控反射率、厚度和沉積率 這型號可安裝在任何真空鍍膜機腔體外的窗口。可實時監控長晶速度、實時提供膜厚、n、k值。并可切定某一波長或固定測量時間間距。更可加裝至三個探頭,同時測量三個樣品,具紫外線區或標準波長可供選擇。 |
F32 | 實時監控薄膜頂部和底部的反射率和沉積速率 |
上海分公司
地址: 上海市浦東金高路 2216 弄 35 號6 幢 306-308 室
電話: (021) 3861 3675,3861 3676卜先生
北京分公司
地址: 北京市豐臺區豐臺科技園汽車博物館東路1號院諾德中心二期號樓1102室
電話: (010) 6261 5731,6261 5735賈先生
岱美有限公司成立于1989年,是數據存儲,半導體,光學,光伏和航空航天*制造商和創新研發機構的*設備分銷商。在21世紀初期,Dymek已從我們在香港的總部擴展到亞洲,以滿足客戶的多樣化需求。在當今化的市場中,我們的客戶有連接東南亞各國的綜合供應鏈已經成為基本。我們我們的專業人員隨時準備與他們會面。
我們總部設在香港,在中國(北京和上海,以及廣東東莞)擁有強大的業務。我們還在馬來西亞,新加坡,中國臺灣,菲律賓和泰國的東南亞設有分支機構。我們所有的分支機構都已建立數十年,我們的許多客戶對我們與他們建立的長達數十年的合作關系感到滿意。
我們的目標是建立持久的關系,滿足東南亞快速增長企業的需求。對于我們的客戶,我們不僅提供設備,還提供建議和技術指導,以及時了解我們不斷發展的行業的新發展。對于我們的供應商,我們提供了深入的銷售網絡和數十年的東南亞復雜商業環境導航經驗。我們將本地客戶與來自歐洲,美國,日本和韓國的*設備連接起來。
可以立即聯系我們,了解我們如何與您合作,實現您組織的*財務目標。
岱美有限公司與Filmetrics從03年開始的合作關系,單是國內16年間已賣出超過600臺不同型號儀器,在國內有多個服務處均有工程師,保證能為客戶提供及時的服務。
經濟實惠的薄膜厚度測量系統的銷售*,讓復雜測量變得簡單
產品簡介:
美國 Filmetrics 公司生產的薄膜厚度測量儀利用反射干涉的原理進行無損測量,可測量薄膜厚度及光學常數。測量精度達到埃級的分辯率,測量迅速,操作簡單,界面友好,是目前市場上性價比的薄膜厚度測量設備。設備光譜測量范圍從近紅外到紫外線,波長范圍從200nm到1700nm可選。凡是光滑的,透明或半透明的和所有半導體膜層都可以測量。其可測量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之間,測量精度高達1 埃,測量穩定性高達 0.7 埃,測量時間只需一到二秒, 并有手動及自動機型可選。可應用領域包括:生物醫學(Biomedical), 液晶顯示(Displays), 硬涂層(Hard coats), 金屬膜(Metal), 眼鏡涂層(Ophthalmic) , 聚對二甲笨(Parylene), 電路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半導體材料(Semiconductors) , 太陽光伏(Solar photovoltaics), 真空鍍層(Vacuum Coatings), 圈筒檢查(Web inspection applications)等。
應用:
通過Filmetrics膜厚測量儀新反射式光譜測量技術,多達3-4層透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在數秒鐘測得。其應用廣泛,例如:
半導體制造 | 液晶顯示器 | 生物醫療元件 | 微機電系統 | 光學鍍膜 |
Photoresist 光刻膠 Oxides 氧化物 Nitrides 氮化物 SOI 絕緣體上硅 | Cell Gaps液晶間隙 Polyimide 聚酰亞胺保護膜 ITO 納米銦錫金屬氧化物 | Polymer/Parylene Layers 聚合物/聚對二甲苯涂層 Membrane/Balloon Wall Thickness 生物膜/氣泡球厚度 Drug-Coated Stent 藥物涂層支架 | Silicon Membranes 硅膜 AlN/ZnO Thin Film Filters 氮化鋁/氧化鋅薄膜濾鏡 | Hardness Coatings 硬鍍膜 Anti-reflection Coatings 增透鍍膜 Filters濾光 |
膜層實例:
幾乎任何光滑、半透明、低吸收的膜都能測。包括:
SiO2(二氧化硅) SiNx(氮化硅) DLC(類金剛石碳)
Photoresist(光刻膠) Polyer Layers(高分子聚合物層) Polymide(聚酰亞胺)
Polysilicon(多晶硅) Amorphous Silicon(非晶硅)
基底實例:
對于厚度測量,大多數情況下所要求的只是一塊光滑、反射的基底。對于光學常數測量,需要一塊平整的鏡面反射基底;如果基底是透明的,基底背面需要進行處理使之不能反射。
包括:
Silicon(硅) Glass(玻璃) Aluminum(鋁)
Gas(砷化鎵) Steel(鋼) Polycarbonate(聚碳酸脂)
Polymer Films(高分子聚合物膜)
產品應用,在可測樣品基底上有了*的飛躍:
●幾乎所有材料表面上的鍍膜都可以測量,即使是藥片,木材或紙張等粗糙的非透明基底。
●玻璃或塑料的板材、管道和容器。
●光學鏡頭和眼科鏡片。
服務:
免費樣機演示及測量
輕輕一按即可實現測量!
請聯系我們,專業的應用工程師將為你演示它是如此的方便!
優勢:
* 提供在線診斷
* 配送獨立的軟件包
* 精通的歷史功能即程序數據可存儲、復制及策劃結果
* 免費軟件升級
極易操作、快速、準確、機身輕巧及價格便宜為其主要優點,Filmetrics提供以下型號以供選擇:
一、單點測量系統(從 1nm 到 13mm 單層及多層厚度測量)
F20 | *銷量好的薄膜測量系統,有各種不同附件和波長(由220nm紫外線區 至1700nm近紅外線區)覆蓋范圍,為任意攜帶型,可以實現反射率、膜厚、n、k值測量。 |
F3-sX | 能測量半導體與介電層薄膜厚度到3毫米, 例如硅片 |
F10-ARc | 可測量鏡片和其他曲面的反射率,用于涂層厚度測量 |
F10-HC | 測量硬涂層和防霧層厚度和折射率,聚碳酸酯硬涂層在汽車等行業應用普通 |
F3-CS | 提供微小視野及微小樣品測量,USB連接電腦即可使用,攜帶方便 |
F10-AR | 測量眼科鏡頭和其他彎曲表面的反射率。還可以提供測量硬涂層厚度和透射率的可選件 |
F10-RT | 可同時測量反射率和透射率,也可選配測量膜層厚度和折射率。普遍應用于真空涂層領域 在F20實現反射率跟穿透率的同時測量,特殊光源設計特別適用于透明基底樣品的測量。 |
二、F40 系列- 基于微米(顯微)級別光斑尺寸厚度測量
F40 | 可以固定到您的顯微鏡上來測量小至 1um 光斑點的厚度和折射率 這型號安裝在任何顯微鏡外,可提供小到1um光點(100倍放大倍數)來測量微小樣品。 |
三、F50/F60系列- 表面的自動測繪
F50 | 為我們的F20系列產品增添自動測繪能力,以每秒鐘 2 個點的快速測繪厚度和折射率 這型號配備全自動XY工作臺,由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可。通過快速掃瞄功能,可取得整片樣品厚度分布情況(mapping)。 |
F54 | 能以每秒測量兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度,樣品直徑可達450毫米 |
F60-t | 滿足生產環境的臺式測繪系統,包括自動基準確定、凹槽定位、全封閉測量平臺以及其它裝置 |
四、F30 系列- 在線厚度監控儀器
F30 | 檢測金屬有機化學氣相沉積(MOCVD)、陰極濺鍍和其他沉積工藝中監控反射率、厚度和沉積率 這型號可安裝在任何真空鍍膜機腔體外的窗口。可實時監控長晶速度、實時提供膜厚、n、k值。并可切定某一波長或固定測量時間間距。更可加裝至三個探頭,同時測量三個樣品,具紫外線區或標準波長可供選擇。 |
F32 | 實時監控薄膜頂部和底部的反射率和沉積速率 |
上海分公司
地址: 上海市浦東金高路 2216 弄 35 號6 幢 306-308 室
電話: (021) 3861 3675,3861 3676卜先生
北京分公司
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電話: (010) 6261 5731,6261 5735賈先生
岱美有限公司成立于1989年,是數據存儲,半導體,光學,光伏和航空航天*制造商和創新研發機構的*設備分銷商。在21世紀初期,Dymek已從我們在香港的總部擴展到亞洲,以滿足客戶的多樣化需求。在當今化的市場中,我們的客戶有連接東南亞各國的綜合供應鏈已經成為基本。我們我們的專業人員隨時準備與他們會面。
我們總部設在香港,在中國(北京和上海,以及廣東東莞)擁有強大的業務。我們還在馬來西亞,新加坡,中國臺灣,菲律賓和泰國的東南亞設有分支機構。我們所有的分支機構都已建立數十年,我們的許多客戶對我們與他們建立的長達數十年的合作關系感到滿意。
我們的目標是建立持久的關系,滿足東南亞快速增長企業的需求。對于我們的客戶,我們不僅提供設備,還提供建議和技術指導,以及時了解我們不斷發展的行業的新發展。對于我們的供應商,我們提供了深入的銷售網絡和數十年的東南亞復雜商業環境導航經驗。我們將本地客戶與來自歐洲,美國,日本和韓國的*設備連接起來。
可以立即聯系我們,了解我們如何與您合作,實現您組織的*財務目標。