Rheonaut 技術中采用了衰減總反射(ATR)的測量原理, 所得光譜結果與樣品厚度無關。在流變儀測量過程中固定的下平臺，裝入了一個對紅外透明的晶體。根據應用的不同，可以提供不同的晶體和溫控結構，Peltier半導體溫控單元(0 ~ 100°C)或電加熱溫控單元(室溫 ~ 400°C)。可以選配幾組偏振片，完成對入射紅外光在平行和垂直軸上的手動或自動控制起偏功能。
 

哈克流變紅外聯用單元優勢和特點
● 在小應變振蕩(SAOS)，大應變振蕩模式(LAOS) 或剪切模式下同步獲得樣品紅外光譜和流變特性，在分子級結構變化分析和解釋流變性能；
●制備的樣品和外在測試條件*相同，試驗時間大大縮短
●HAAKE MARS專利集成技術
● 內建ATR（衰減總反射）技術的單反射晶體(金剛石)和DTGS檢測器
●廣泛應用于聚合物、化工、食品、藥品、涂料、化妝品等多個領域。
●控溫范圍：0 ~ 120°C (Peltier系統) 或 室溫 ~ 400°C(電加熱系統)