在貴金屬檢測領域，傳統的分析方法如試金石法、灰吹法、火試金法等都屬于破壞性檢測，具有消耗性和危險性，且樣品的制備過程耗時更長。而X射線熒光光譜法的技術相對成熟，可以達到即時分析,無損檢測,不需要任何耗材,并且檢測精度可以達到小數點后四位數，是我國普及型貴金屬檢測技術的發展方向。西凡科技制造的金銀檢測儀引用的就是X射線熒光光譜法這種*的貴金屬檢測技術。

XF-A6貴金屬元素檢測儀是西凡科技根據多年的貴金屬檢測技術和經驗，自主研發生產的X射線熒光光譜檢測儀之一，是一款配置的全元素檢測儀。它配備了進口SDD探測器，采用航空設計，大氣，擁有十多項研發專業，性能突出，體積小重量輕，符合新國標GB18043-2013，可對金銀首飾進行準確檢測。

XF-A6貴金屬元素檢測儀優勢

性價比高

可以快速準確檢測各種貴金屬，應用廣泛！

無損檢測

不會對珠寶首飾等被測樣品造成任何損壞。

操作簡單智能

*一鍵測試功能，自動化檢測無需配備專業人員

檢測快速。

3秒定性，7秒可得出直觀結果。

便于攜帶

一體化設計，占用空間小，便于攜帶與管理。

安全耐用

具備反輻射功能，整機壽命超過10年

精準度高

ppm級精確度，可靠的檢測數據，±0.01%的檢測精準度。

操作安全

加裝防輻射裝置，主動保護操作人員安全。