市場上熒光壽命的測量方式可分為時域法和頻域法，兩者在本質上是相通的，測量精度相近，頻域技術是時域法的傅里葉變換的延伸。時域和頻域技術在各種顯微壽命成像平臺中都有應用，時間相關單光子計數方法（TCSPC )是zei為常見的時域技術，而新興的數字頻域技術（FastFLIM™ )則取代了傳統的模擬頻域技術，憑借其獨恃的優勢成為應用zei廣的頻域技術。

   美國ISS是jin有的能同時提供時域TCSPC和數字頻域FastFLIM™兩種熒光壽命成像技術解決方案的公司，其推出的FLIM熒光壽命成像及熒光波動光譜升級模塊，可以讓您現有的共聚焦顯微鏡擁有FLIM及FCS測試功能，可適配各種顯微鏡。

FastFLIM可兼容同步激光共聚焦激光器，用于FLIM/FFS。

激光共聚焦自帶的混合光子探測器（Hyd）可直接跟FastFLIM連接，用戶FLIM/FFS

FastFLIM模塊通過USB與電腦連接，可任意選配控制工作站。

FLIM熒光壽命成像及熒光波動光譜升級模塊的優勢：

Ø高效快速的數據采集模式（100% duty cycle）,幾乎無死亡時間;

Ø光子計數動態范圍大，線性度高，數據采集率可達每秒計數6x10⁷；

Ø提供四個數據輸入通道，

Ø同時對四個檢測器進行并行數據采集； 

Ø靈活度高，應用范圍廣

Ø100ps到100ms的無間斷壽命測量；

Ø可接入多種模式觸發信號與脈沖激光或其它測量設備同步；

Ø可輸出多種模式觸發信號來調控脈沖激光重復率或調制激光或同步其他測量設備