Genesis XM系列X射線能譜儀
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 EDAX Inc.美國伊達克斯有限公司-J
- 品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2019/4/2 16:07:59
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產品標簽
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| 價格區間 | 面議 | 探測器類 | 硅漂移探測器（SDD） |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 進口 |
Genesis XM系列X射線能譜儀技術參數：
1.探頭分辨率優于129eV，峰背比優于20000:1
2.檢測元素范圍Be4 - Es99
3.大計數率500,000cps
4.大圖象采集分辨率8192x6400象素（矩形）；8192x8192像素（方形）
5.大面分布圖采集分辨率2048x1600象素（矩形）；2048x2048（方形）
Genesis XM系列X射線能譜儀主要特點：
1.探頭指標高，性能好，壽命長。
2.全新32位軟硬件系統，工作可靠，效率高。
3.具有操作引導的集成式界面，使用直觀方便。
4.具有多種專有技術軟件，分析精度高。
5.軟件種類及功能豐富，且具有報告生成系統。
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