布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X- 射線衍射儀，采用創造性的達芬奇設計，通過TWIN-TWIN光路設計，成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過革命性的TWIST TUBE技術，使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用（常規粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點光源應用（織構、應力、微區）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史！

　　高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個衍射峰（注意不是一個衍射峰）的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度，布魯克AXS公司提供全球保證！

　　*的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍，不僅答復提高設備的使用效率，而且大幅提高了設備的探測靈敏度。

　　D8 ADVANCE X- 射線衍射儀技術指標：

　　Theta/theta立式測角儀

　　2Theta角度范圍：-110~168°

　　角度精度：0.0001度

　　Cr/Co/Cu靶，標準尺寸光管

　　探測器：林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器

　　儀器尺寸：1868x1300x1135mm

　　重量：770kg

　　應用

　　物相定性分析

　　結晶度及非晶相含量分析

　　結構精修及解析

　　物相定量分析

　　點陣參數精確測量

　　無標樣定量分析

　　微觀應變分析

　　晶粒尺寸分析

　　原位分析

　　殘余應力

　　低角度介孔材料測量

　　織構及ODF分析

　　薄膜掠入射

　　薄膜反射率測量

　　小角散射