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SR Series 光譜反射儀

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光譜反射儀儀器

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First-Nano System GmbH 

  • 2003年          創立于德國德累斯頓工業大學(Dresden University of Technology)

  • 2008年          香港成立德國韋氏納米系統(香港)有限公司   

  • 2015年          上海成立德國韋氏納米系統(香港)有限公司中國代表處,負責中國區業務

  • 2018年          深圳正式成立韋氏納米系統(深圳)有限公司,更好的為中國南方區市場

     

德國韋氏納米系統成立以來,一直為客戶想的更多,Thinking more !!!

 

產品范圍:

薄膜沉積/Thin Film Deposition 
E-Beam and Thermal Evaporation, PECVD, PLD, DLC, DC & RF Sputtering, Ion Beam Sputtering
刻蝕/Etching
RIE, DRIE, ICP, Ion Beam Milling, RIBE, Plasma, ALE
薄膜制程/Growth
ALD, PA-MOCVD, CNT, Graphene
表面處理/Surface Treatment
Ion Beam, PIII, Plasma Cleaner, RTP
清洗/Cleaning
- Dry: Ion Beam, Plasma Cleaner
- Wet: Megasonic, 杜邦EKC清洗液
其他/Other,
Device Testing System for Space Simulation, Heated Platens, Plasma Sources, Resist Stripping Systems

等離子清洗機,均膠機,薄膜沉積,刻蝕

光譜反射儀(SR)系列是一款相對較低成本和操作簡單的工具。

 

SR 系列特征:

  • 簡單易操作                        

  • 系統性能基于*的光學設計            

  • 基于陣列的探測器系統保證快速測量            

  • 測量薄膜厚度和折射率可達5層            

  • 允許在毫秒內獲得反射、透射和吸收光譜            

  • 可用于實時或在線厚度,折射率的監測            

  • 系統具有全面的光學常數數據庫           

  • *的TFprobe軟件允許用戶使用NK表、分散或有效介質近似(EMA)每個單獨的膜。            

  • 可升級到MSP(顯微分光光度計)系統,SRM映射系統,多通道系統,大點的·直接測量圖案或功能結構 

 

  • 適用于多種不同厚度的基材            

  • 各種附件可用于特殊配置,如運行曲線測量曲面            

  • 2D和3D輸出圖形和用戶友好的數據管理接口

 



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